[发明专利]一种检测超薄干膜厚度的方法在审

专利信息
申请号: 202111474989.6 申请日: 2021-12-06
公开(公告)号: CN114234881A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 林辉;林旭荣;何润宏;陈华丽;张学东;朱晓琪;郭一彬;邱彦佳 申请(专利权)人: 汕头超声印制板(二厂)有限公司;汕头超声印制板(三厂)有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 广州市深研专利事务所(普通合伙) 44229 代理人: 陈雅平
地址: 515041 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 超薄 厚度 方法
【权利要求书】:

1.一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,该检测超薄干膜厚度的方法包括以下步骤:在PCB板本体贴上来料干膜;

通过曝光显影在所述干膜上形成预定的凹槽;

采用电镀填孔方式将预定所述凹槽填满形成铜柱;

依据膜厚要求通过调整电流密度使所述铜柱高于所述来料干膜厚度;

再通过金相切片测量所述PCB板本体上基铜到所述来料干膜表面夹膜镀铜处高度,得到所述来料干膜的实际厚度。

2.根据权利要求1所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,所述通过曝光显影在干膜上形成预定的凹槽的形状为圆型或多边形。

3.根据权利要求2所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,所述凹槽3的直径或宽度为60-100um。

4.根据权利要求3所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,所述凹槽3的直径或宽度为70-90um。

5.根据权利要求3所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,所述凹槽3的直径或宽度为80um。

6.根据权利要求1所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,所述铜柱4必须高于干膜厚度,且形成夹膜。

7.根据权利要求1-6任一所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,选择需要验证的来料干膜通过贴膜机将来料干膜贴附在PCB板本体上,并按规定时间静态放置。

8.根据权利要求2所述的一种检测超薄干膜厚度的方法,其特征在于,指定测试图形通过曝光机将测试模板进行曝光。

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