[发明专利]一种电子器件电磁辐射测量方法及测量系统

说明书

本发明公开了一种电子器件电磁辐射测量方法及测量系统，该方法包括步骤：对试验对象进行尺寸扫描和近场扫描，确定试验对象尺寸边界表面A和近场磁场数据；根据试验对象尺寸边界表面A和近场磁场数据，建立初步的等效磁偶极子模型，并进行实时仿真，得到仿真数据；测量试验对象的远场电场数据，将远场电场数据与仿真数据进行比对，若两者的差值超出预设数值，则对初步的等效磁偶极子模型进行修正；当远场被测点位达到一定数量后，且远场被测点位的远场电场数据与对应的仿真数据之间的差值均小于预设值时，则输出最终的等效磁偶极子模型，以此获取其它空间点位或区域的辐射场信息。本发明具有测量精度高以及测量效率高等优点。

技术领域

本发明主要涉及电子器件技术领域，具体涉及一种电子器件电磁辐射测量方法及测量系统。

背景技术

电子信息技术的发展，电子器件所产生的电磁辐射越来越复杂，由于电子器件电路的复杂性和商业秘密等原因，通过直接建立电子器件的电路模型，来对其产生的电磁辐射进行仿真的难度过大并且不太现实。为了解决电磁兼容的相关问题，可通过采用磁传感器对电子器件进行近场扫描，获取周围的电磁辐射信息，利用逆推算法来确定电子器件的辐射源，辐射源产生的磁场辐射本质上可以视为由等效磁偶极子模型中的等效偶极子辐射叠加而成。

现有大多数等效偶极子模型建立方法为：对电子器件周围进行扫描，获取辐射场信息，通过实验仪器将辐射场信息导入电磁仿真软件建立等效偶极子模型。倘若仿真结果与现实辐射场偏离过大，为了修正仿真结果，还需要再次测量和获取更多辐射场信息，整体测试效率低。在实验重设与试验设备、台架重新搭建的过程中，不可避免的与前一次试验产生误差，即试验误差大。

发明内容

本发明要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的问题，本发明提供一种测量效率高且测量精度高的电子器件电磁辐射测量方法及测量系统。

为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：

一种电子器件电磁辐射测量方法，包括步骤：

对试验对象进行尺寸扫描，确定试验对象尺寸边界表面A；

对试验对象进行近场扫描，得到被测点位的近场磁场数据；

根据试验对象尺寸边界表面A和近场磁场数据，建立初步的等效磁偶极子模型，并对初步的等效磁偶极子模型进行实时仿真，得到仿真数据；

对试验对象的远场电场进行测量，得到远场电场数据，将远场电场数据与仿真数据进行比对，若两者的差值超出预设数值，则对初步的等效磁偶极子模型进行修正；

当远场被测点位达到一定数量后，且远场被测点位的远场电场数据与对应的仿真数据之间的差值均小于预设值时，则输出最终的等效磁偶极子模型，以此获取其它空间点位或区域的辐射场信息。

优选地，建立初步的等效磁偶极子模型的过程为：

建立磁偶极子矢量磁场矩阵表达式如下：

其中为等效磁偶极子在近场扫描点的磁场矢量在直角坐标系三个轴上的投影分量；Δx＝(x-x₀)，Δy＝(y-y₀)，Δz＝(z-z₀)分别为近场扫描点与等效磁偶极子在x、y、z方向上的差值；μ₀自由空间磁导率，r为等效磁偶极子指向近场扫描点矢径的模，表示为：令(1)式中的3×3矩阵为为等效磁偶极子磁矩在直角坐标系三个轴上的投影分量；

在近场扫描点所测量的M个点的磁场矢量为：

等效磁偶极子模型中的N个磁偶极子磁矩在三个坐标轴的的分量为：