[发明专利]一种光学检测沉割槽的装置和沉割槽光学检测系统在审

专利信息
申请号: 202111419573.4 申请日: 2021-11-26
公开(公告)号: CN114152202A 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 邓力榛;吴勉;刘继斌 申请(专利权)人: 东风设备制造有限公司;东风汽车集团股份有限公司
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08;G01B11/14;G01B11/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军;高炳龙
地址: 442022 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 检测 沉割槽 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种光学检测沉割槽的装置,其特征在于:包括机械手(1)、测量系统(2)、双目光学镜头模组(3)、机械手控制系统(4),所述机械手控制系统(4)与所述机械手(1)电连接,所述双目光学镜头模组(3)连接于所述机械手(1)的移动端;所述双目光学镜头模组(3)包括用于连接机械手(1)的机架(31),所述机架(31)上设置有沿待测轴类零件(5)的轴向间隔布置的V型定位块(32)和U型悬臂(33),所述U型悬臂(33)上设置有两组上下间隔布置的用于拍摄待测轴类零件(5)上沉割槽的拍摄单元,每个拍摄单元包括同轴布置的相机(34)和照明光源(35),所述相机(34)和所述照明光源(35)对称设置于待测轴类零件(5)的两侧,所述相机(34)与所述测量系统(2)电连接。

2.根据权利要求1所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述V型定位块(32)的对称轴线与所述U型悬臂(33)的对称轴线重合。

3.根据权利要求1所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述V型定位块(32)包括两个相对于待测轴类零件(5)的中轴轴线对称布置的定位斜面。

4.根据权利要求1所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述机架(31)上设置有用于连接机械手(1)的快换接头。

5.一种光学检测沉割槽的装置,其特征在于:包括用于定位承载待测轴类零件(5)的支撑台架(6),所述支撑台架(6)旁设置有三轴运动单元(8),所述三轴运动单元(8)的移动端连接有图像采集与处理单元(10);所述三轴运动单元(8)包括固定龙门架(81),所述固定龙门架(81)上设置有处理单元,所述固定龙门架(81)上设置有沿待测轴类零件(5)的轴向布置的第一直线模组(82),所述第一直线模组(82)的移动端连接有与其垂直布置的第二直线模组(83),所述第二直线模组(83)的移动端设置有沿竖直方向布置的第三直线模组(84),所述第三直线模组(84)的移动端上对称设置有连接悬臂(85),所述连接悬臂(85)上设置有两组上下间隔布置的图像采集与处理单元(10),每个图像采集与处理单元(10)包括拍摄相机(101)、光源(102)和数据处理单元,所述拍摄相机(101)和所述光源(102)同轴布置,所述拍摄相机(101)和所述数据处理单元电连接,所述拍摄相机(101)和所述光源(102)对称设置于待测轴类零件(5)的两侧。

6.根据权利要求5所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述支撑台架(6)上连接有用于驱动其沿待测轴类零件(5)的轴向移动的步进传输单元(7)。

7.根据权利要求5所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述支撑台架(6)旁设置有用于触发相机拍照的红外触发单元(9)。

8.根据权利要求5所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述连接悬臂(85)为H型。

9.根据权利要求1所述的光学检测沉割槽的装置,其特征在于:所述固定龙门架(81)包括对称设置于所述支撑台架(6)两侧的底座和连接于两个底座上的门架。

10.一种沉割槽光学检测系统,其特征在于:包括如权利要求1-9任一项所述的光学检测沉割槽的装置。

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