[发明专利]一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台

说明书

本发明公开一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，包括激励发生器、输入监视器、输出监视器、参考模型、比较器，覆盖率收集器和覆盖率反馈器，增加了覆盖率反馈器，会对收集的覆盖率的结果进行存储和分析，产生没有被覆盖的功能项，然后输送给激励生成器，促使激励发生器产生特定的没有被覆盖的激励。本发明在以往的验证平台中新增加了覆盖率反馈器，使得验证平台形成了一个自反馈系统，从而减小了不必要的测试，减小了测量次数和测量时间，提高了芯片验证的效率。

技术领域

本发明涉及芯片验证领域，具体是一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台。

背景技术

随着芯片的规模越来越大，逻辑越来越复杂，采用受约束的随机测试方法是对它们进行全面验证的唯一有效途径，而验证的完备性往往用覆盖率来衡量。覆盖率主要分为代码覆盖率和功能覆盖率，代码覆盖率反应的是代码的执行结果，可以通过工具直接测试，而功能覆盖率指的是确保设计在实际环境中的行为正确，又可分为功能点覆盖率和交叉覆盖率。功能覆盖率是和设计意图紧密相连的，无法用工具直接测试，需要验证人员搭建覆盖率收集器来完成。

现有的覆盖率收集器可以检测功能的覆盖情况，但是随着芯片的越来越复杂，功能覆盖率也很难达到100%，想要增加功能覆盖率就需要增加测试次数以促使激励发生器产生更多的激励，增加测量次数带来的最大的问题就是增加了时间成本，降低芯片测试的效率。举个例子：比如有两个待测试的功能点A和B，A与B都是均匀分布的。假设A有20个值，B有30个值，如果将A与B进行交叉排列组合的话，理论上A与B应当有600种组合。即使验证项跑600次，也是无法达到100%的交叉覆盖率。想要增加其交叉覆盖率就要增加测量的次数和测量的时间。此外，在仿真时A与B都是同时进行均匀化随机的，即便提升10倍的测量次数，也无法保证将交叉覆盖率达到100%。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，增加了覆盖率反馈器，会对收集的功能覆盖率的结果进行存储和分析，给出没有被覆盖的功能项，并反馈给激励发生器产生未被覆盖的特定激励，以此减小测量次数和测量时间，提高功能覆盖率和测量效率。

为了解决所述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，包括：

激励发生器，用于为待验设计提供需要施加的激励，并将激励发送给待验设计；

输入监视器，与激励发生器相连，用于对待验设计的输入接口的数据进行采集，并将采集的数据发送给参考模型和覆盖率收集器；

输出监视器，与待验设计的输出端相连，用于对待验设计的输出端口的数据进行采集，观察待验设计的边界和内部信息，并发送给比较器；

参考模型，与输入监视器相连，完成与待验设计相同的功能，根据输入监视器的数据给出预期的结果；

比较器，分别与参考模型、输出监视器相连，对来自参考模型和输出监视器的数据进行比较，如果正确，则待验设计正确；

覆盖率收集器的作用是检测代码是否冗余、设计要点是否遍历、设计条件是否被观察、验证和测试，并将收集结果送给覆盖率反馈器；

覆盖率反馈器，与覆盖率收集器相连，把覆盖率收集器收集的结果进行存储和分析，得出没有被覆盖的覆盖项并输送给激励发生器，以使激励发生器产生没有被覆盖的特定激励。

进一步的，覆盖率反馈器包括覆盖项累加器、覆盖项分配器、覆盖项存储器、覆盖项分析器和覆盖项分析控制器；

覆盖项累加器是对覆盖率收集器输出的覆盖项进行累加，并输送给覆盖项分析控制器；

覆盖项分配器与输入覆盖项相连，按照设定的规律把覆盖项分配到覆盖项存储器对应的存储区域中；

覆盖项存储器与覆盖项分配器相连，按照设定的规律存储输入的覆盖项；所述设定的规律是指按照用户设定的间隔把覆盖项存储器分成n个存储区域，覆盖项目也按照用户设定的间隔分成n份，n份覆盖项目分别存在对应的存储区域内；