[发明专利]一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台

权利要求书

1.一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，其特征在于：包括：

激励发生器，用于为待验设计提供需要施加的激励，并将激励发送给待验设计；

输入监视器，与激励发生器相连，用于对待验设计的输入接口的数据进行采集，并将采集的数据发送给参考模型和覆盖率收集器；

输出监视器，与待验设计的输出端相连，用于对待验设计的输出端口的数据进行采集，观察待验设计的边界和内部信息，并发送给比较器；

参考模型，与输入监视器相连，完成与待验设计相同的功能，根据输入监视器的数据给出预期的结果；

比较器，分别与参考模型、输出监视器相连，对来自参考模型和输出监视器的数据进行比较，如果正确，则待验设计正确；

覆盖率收集器的作用是检测代码是否冗余、设计要点是否遍历、设计条件是否被观察、验证和测试，并将收集结果送给覆盖率反馈器；

覆盖率反馈器，与覆盖率收集器相连，把覆盖率收集器收集的结果进行存储和分析，得出没有被覆盖的覆盖项并输送给激励发生器，以使激励发生器产生没有被覆盖的特定激励。

2.根据权利要求1所述的提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，其特征在于：覆盖率反馈器包括覆盖项累加器、覆盖项分配器、覆盖项存储器、覆盖项分析器和覆盖项分析控制器；

覆盖项累加器是对覆盖率收集器输出的覆盖项进行累加，并输送给覆盖项分析控制器；

覆盖项分配器与输入覆盖项相连，按照设定的规律把覆盖项分配到覆盖项存储器对应的存储区域中；

覆盖项存储器与覆盖项分配器相连，按照设定的规律存储输入的覆盖项；所述设定的规律是指按照用户设定的间隔把覆盖项存储器分成n个存储区域，覆盖项目也按照用户设定的间隔分成n份，n份覆盖项目分别存在对应的存储区域内；

覆盖项分析控制器与覆盖项累加器和输入覆盖项相连，根据输入覆盖项判断覆盖率是否达到100%，如果没有达到100%就控制覆盖项分析器对覆盖项存储器中存储的覆盖项进行分析，得出没有被覆盖的覆盖项并输送给激励发生器，以使激励发生器产生没有被覆盖的特定的激励。

3.根据权利要求2所述的提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，其特征在于：覆盖项分析控制器分析覆盖项累加器的累加值，当累加值等于设计的阈值N时，覆盖项分析控制器根据输入覆盖项判断覆盖率是否达到100%，如果没有达到100%就控制覆盖项分析器对覆盖项存储器中存储的覆盖项进行分析。

4.根据权利要求2所述的提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，其特征在于：覆盖项分析器对覆盖项存储器中存储的覆盖项进行分析的过程为：覆盖项分析器读出覆盖项存储器中的数据，没有存储数据的存储区域就是没有被覆盖的覆盖项，从而分析出没有被覆盖的覆盖项。

5.根据权利要求1所述的提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，其特征在于：激励发生器根据接口协议提供正常的激励和异常的激励，并发送给待验设计。