[发明专利]基于TiS3 有效
申请号: | 202111404430.6 | 申请日: | 2021-11-24 |
公开(公告)号: | CN113839306B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 张凯;张君蓉;张玉双 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01S5/183 | 分类号: | H01S5/183;H01S5/30 |
代理公司: | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人: | 仲崇明 |
地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 tis base sub | ||
1.一种基于TiS3的垂直腔面激光器,其特征在于,包括上DBR、下DBR以及设置于上DBR和下DBR之间的有源层,
所述有源层采用TiS3,
所述上DBR和下DBR之间的微腔的厚度为1.74 μm ~2.44 μm,
激光器的发光波长λ=1260~1360nm,
所述上DBR和下DBR为SiO2/TiO2材料交替组成,或所述上DBR和下DBR为SiO2/Si3N4材料交替组成。
2.如权利要求1所述的基于TiS3的垂直腔面激光器,其特征在于,所述上DBR和有源层之间设置有上包覆层,
所述上包覆层的厚度为3λ/2n1,n1为上包覆层的折射率;和/或
所述下DBR和有源层之间设置有下包覆层,
所述下包覆层的厚度为λ/2n2,n2为下包覆层的折射率。
3.如权利要求2所述的基于TiS3的垂直腔面激光器,其特征在于,所述上包覆层和下包覆层的折射率小于有源层的折射率。
4.如权利要求3所述的基于TiS3的垂直腔面激光器,其特征在于,所述上包覆层和下包覆层的材质为SiO2或MgF2。
5.如权利要求1所述的基于TiS3的垂直腔面激光器,其特征在于,所述上DBR和下DBR为SiO2/TiO2材料交替组成时,
所述上DBR和下DBR的每个周期中,SiO2材料层的厚度为235nm,TiO2材料层的厚度为138nm,
所述上DBR和下DBR的周期数分别为6和5,
所述上DBR和下DBR之间的微腔的厚度为1.74 μm~2.38 μm 。
6.如权利要求1所述的基于TiS3的垂直腔面激光器,其特征在于,所述上DBR和下DBR为SiO2/Si3N4材料交替组成时,
所述上DBR和下DBR的每个周期中,SiO2材料层的厚度为243nm,Si3N4材料层的厚度为178nm,
所述上DBR和下DBR的周期数分别为9和8,
所述上DBR和下DBR之间的微腔的厚度为1.80 μm ~2.44 μm 。
7.一种如权利要求1至6任一所述的基于TiS3的垂直腔面激光器的制作方法,其特征在于,包括:
提供衬底;
在衬底上依次制作下DBR和下包覆层;
制作TiS3材料层,并将其转移至下包覆层上;
在TiS3材料层上,依次制作上包覆层和上DBR。
8.根据权利要求7所述的TiS3的垂直腔面激光器的制作方法,其特征在于,所述TiS3材料层利用化学气相输运法生长得到。
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