[发明专利]高温环境下锻件图像干扰消除方法

权利要求书

1.高温环境下锻件图像干扰消除方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

步骤1，采用锻件图像，并对采集到的图像进行预处理；

步骤2，对经步骤1处理后的图像消除红外干扰；

步骤3，对步骤2所得的图像进行中值滤波，得到滤波后的矩阵，记为

步骤4，对步骤3得到的矩阵进行直方图均衡化处理，得到矩阵

步骤5，根据步骤4所得结果获取输出矩阵AO_m×n。

2.根据权利要求1所述的高温环境下锻件图像干扰消除方法，其特征在于：所述步骤1的具体过程为：通过相机采集锻件图像，令采集到的锻件图像为A_m×n，将图像A_m×n根据R、G、B三原色原理分为三个图层；分别记为：其中m表示图像A_m×n在横向的像素点个数，n表示图像A_m×n在纵向的像素点个数。

3.根据权利要求2所述的高温环境下锻件图像干扰消除方法，其特征在于：所述步骤2的具体过程为：依次获得中相同坐标值情况下像素点的值，记为其中：，i的取值范围为1～m，j的取值范围为1～n；当满足如下公式(1)时，将均记为0，否则，的值不发生变化，从而得到修正过的

其中，b₁、b₂、b₃为比例系数，取值范围均为1～10。

4.根据权利要求3所述的高温环境下锻件图像干扰消除方法，其特征在于：所述步骤5的具体过程为，统计矩阵中所有像素点出现的频率，从高到低依次排列，获取p个灰度值，依次记为：k₁、k₂、......、k_p，对中所有像素点进行处理，将处理后的单个像素点值记为所有像素点值形成输出矩阵，记为AO_m×n。

5.根据权利要求4所述的高温环境下锻件图像干扰消除方法，其特征在于：所述步骤5中，采用如下公式(2)计算单个像素点值

其中：m为横向像素点个数，h为纵向像素点个数，p的取值范围为1～m×n，i的取值范围为1～m，j的取值范围为1～n。