[发明专利]一种缺陷检测设备及方法

说明书

本发明提供一种缺陷检测设备及方法，检测设备包括检测机构和检测台，检测机构具有检测单元，检测机构在检测单元相对的两端具有供预制棒进出的入口和出口。检测台包括移载单元、多个支撑预制棒的支撑组件和穿设在检测机构内的检测线，检测线位于检测单元之下。支撑组件在移载单元的驱动下相对于检测线沿检测线的延伸方向移动，并带动预制棒相对于检测单元移动。本发明提供的缺陷检测设备，能够提高检测精度和检测效率。

技术领域

本发明涉及光纤缺陷检测技术领域，特别涉及一种缺陷检测设备及方 法。

背景技术

随着通讯产业的发展和第五代移动通信技术(5th Generation MobileCommunication Technology，5G技术)的兴起，光纤的应用越来越广泛。

光纤预制棒作为光纤生产的原材料，其主流工艺主要有管外汽相沉积法 (OVD)、气相轴向沉积法(VAD)、改进的管内化学气相沉积法(MCVD)、 等离子体管内化学气相沉积法(PCVD)。上述四项主流工艺可以组合，按照 “两步法”合成光纤预制棒。受限于现有工艺水平，在“两步法”合成过程 容易在预制棒的芯层、包层、或者芯包分界产生气泡或者不透明杂质。目前， 在光纤预制棒的生产过程中，通常通过人工对光纤预制棒进行缺陷检测，并进行相应的记录。

然而，通过人工对光纤预制棒的缺陷进行检测，不仅检测精度较低，而 且检测效率较低。

发明内容

本发明提供一种缺陷检测设备及方法，不仅能够提高检测精度，而且能 提升检测效率。

本发明第一方面提供一种缺陷检测设备，应用于供光线透过的预制棒， 所述检测设备包括检测机构和检测台，所述检测机构具有检测单元，所述检 测机构在所述检测单元相对的两端具有供预制棒进出的入口和出口；

所述检测台包括移载单元、多个支撑所述预制棒的支撑组件和穿设在所 述检测机构内的检测线，所述检测线位于所述检测单元之下且端部位于所述 检测机构的外部；多个所述支撑组件在所述检测线上所述入口的一端移动设 置，并沿所述检测线的延伸方向依次排列；所述支撑组件在所述移载单元的 驱动下相对于所述检测线沿所述检测线的延伸方向移动，并带动所述预制棒 相对于所述检测单元移动。

在一种可选的实施方式中，所述检测单元具有供所述预制棒穿过的检测 区域，所述检测区域包括第一检测区域和第二检测区域，所述检测区域和所 述第二检测区域均与所述预制棒相对设置。

在一种可选的实施方式中，所述检测单元包括检测所述预制棒缺陷的第 一检测单元，所述第一检测单元包括位于所述检测机构内部的检测装置，所 述检测装置内具有所述第一检测区域。

在一种可选的实施方式中，所述检测装置包括检测所述预制棒表面缺陷 的第一光源组件和多个图片获取装置，所述第一光源组件内具有所述第一检 测区域，多个所述图片获取装置均布在所述第一光源组件的周向间隙处，并 朝向所述第一检测区域设置。

在一种可选的实施方式中，所述第一光源组件包括多个第一光源，多个 所述第一光源沿预设方向依次排列并围成所述第一检测区域，其中，两个所 述第一光源之间的夹角相等且之间具有间隙，所述图片获取装置设在所述间 隙内并与所述第一光源相对设置。

在一种可选的实施方式中，所述检测装置包括检测所述预制棒内部缺陷 的第二光源，所述第二光源位于所述图片获取装置的覆盖范围。

在一种可选的实施方式中，所述第一检测单元包括与位于所述检测机构 的外部的第三光源，所述第三光源位于所述出口的一侧并与所述预制棒的端 部相对设置，所述第三光源相对所述检测机构移动设置。

在一种可选的实施方式中，所述检测单元包括检测所述预制棒参数的第 二检测单元，所述第二检测单元具有所述第二检测区域。