[发明专利]一种油基泥浆条件下的裂缝测井识别方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111357624.5 申请日: 2021-11-16
公开(公告)号: CN116136606A 公开(公告)日: 2023-05-19
发明(设计)人: 艾勇;韩闯;郑新华;赖锦;刘兴礼;信毅;祁新忠;张承森;陈康军;刘宏坤;别康;蔡德洋;曹军涛;赵新建;李新城 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30;G01V1/36;G01V1/40
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 张宇鸽
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 泥浆 条件下 裂缝 测井 识别 方法 系统
【说明书】:

发明提供一种油基泥浆条件下的裂缝测井识别方法及系统,可以提高油基泥浆条件下裂缝测井识别的精度,对地层裂缝发育程度进行有效评价,同时对于裂缝的充填性进行判断。其中识别方法包括如下步骤,S1、基于待分析地层的常规测井资料,根据密度曲线及纵波声波时差曲线计算出岩石波阻抗值;S2、根据常规测井资料中的泥质含量曲线对计算得到的岩石波阻抗值进行校正,根据预设的校正公式计算获得校正波阻抗值,并绘制校正波阻抗曲线图;S3、基于计算得到的校正波阻抗值判断待分析地层的裂缝是否发育,若校正波阻抗值不大于预设的波阻抗阈值,则表示对应地层的裂缝为发育裂缝,否则为未发育裂缝。

技术领域

本发明涉及致密砂岩裂缝测井评价方法技术领域,具体为一种油基泥浆条件下的裂缝测井识别方法及系统。

背景技术

目前,针对致密油气储集层,裂缝的发育与否决定了致密油气的富集与高产。但由于取心和薄片资料较少,利用测井资料尤其是成像测井资料实现对裂缝的测井判别显得尤为重要。

然而,油基泥浆条件下,微电阻率成像测井由于地层受油基钻井液影响,导电性失灵,很难对裂缝进行精细识别和评价,目前针对油基泥浆条件下的裂缝的测井识别主要存在以下问题:

1、精度限制,油基泥浆条件下微电阻率成像测井难以准确识别出裂缝,与水基泥浆条件下相比,裂缝形迹识别较困难;

2、由于受油基泥浆影响,微电阻率成像测井上难以识别裂缝的充填性。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题,本发明提供一种油基泥浆条件下的裂缝测井识别方法及系统,可以提高油基泥浆条件下裂缝测井识别的精度,对地层裂缝发育程度进行有效评价,同时对于裂缝的充填性进行判断。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

一种油基泥浆条件下的裂缝测井识别方法,包括如下步骤,

S1、基于待分析地层的常规测井资料,根据密度曲线及纵波声波时差曲线计算出岩石波阻抗值;

S2、根据常规测井资料中的泥质含量曲线对计算得到的岩石波阻抗值进行校正,根据预设的校正公式计算获得校正波阻抗值,并绘制校正波阻抗曲线图;

S3、基于计算得到的校正波阻抗值判断待分析地层的裂缝是否发育,若校正波阻抗值不大于预设的波阻抗阈值,则表示对应地层的裂缝为发育裂缝,否则为未发育裂缝。

优选地,在S1中还包括对于计算得到的异常的岩石波阻抗值进行剥离;

其中,异常的判断标准为计算的岩石波阻抗值偏离正常岩石物理性质对应岩石波阻抗值的预设范围。

优选地,在S2中,所述校正包括,

选取岩心中不同泥质含量位置处的多个未发育裂缝,计算泥质含量变化时对应的岩石波阻抗值的变化值;

对比泥质含量变化与岩石波阻抗值变化的关系,得到校正公式为,

当埋深≤5000m时,校正波阻抗值Z’=Z+1.3VSH,其中,VSH为泥质含量,Z为岩石波阻抗值;

当埋深>5000m时,校正波阻抗值Z’=Z-1.3VSH。

优选地,基于多井资料,设置预设的波阻抗阈值为1300Kg/cm3·s。

优选地,还包括根据校正波阻抗值定性判别待分析井段的裂缝发育程度;

根据校正波阻抗曲线图划分井段的裂缝发育层段;

裂缝发育程度为裂缝发育层段的厚度与整个井段的深度的比,比值越大,则该井段的裂缝发育程度越高。

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