[发明专利]一种基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法在审
| 申请号： | 202111339784.7 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN114235155A | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 宋俊玲;饶伟;洪延姬;冯高平;王殿恺 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京众元弘策知识产权代理事务所(普通合伙) 11462 | 代理人： | 宋磊 |
| 地址： | 101416*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 吸收 测量 范围 温度 二维 分布 方法 | ||
1.一种基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：流场建模；
S2：吸收谱线积分吸光度替代；
S3：利用多条吸收谱线组合求解温度的二维分布。
2.根据权利要求1所述的基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法，其特征在于，步骤S1包括:
S11：仿真一个与实际被测区域相同温度和组分浓度的二维分布流场；
S12：确定光线分布方式；
S13：选取需要测量的特征分子的多条吸收谱线，且下态能级涵盖低能级和高能级；
S14：计算每条吸收谱线对应每条光线的积分吸光度。
3.根据权利要求2所述的基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法，其特征在于，步骤S13中的吸收谱线的数目为3条。
4.根据权利要求1所述的基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法，其特征在于，步骤S2包括:
S21：找到下态能级高的吸收谱线对应的积分吸光度小于设定阈值对应的光线M；
S22：利用低温谱线对求解光线M对应的平均温度和组分浓度；
S23：利用求解的平均温度和组分浓度，求解光线M对应高温谱线的平均积分吸光度A3_avg；
S24：将光线M对应的高温谱线的仿真积分吸光度A3_sim与平均积分吸光度A3_avg进行曲线拟合；
S25：利用拟合曲线L求解高温谱线对应光线M的积分吸光度A3_sim_mod。
5.根据权利要求4所述的基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法，其特征在于，步骤S3包括:
S31：利用低温谱线对求解温度和组分浓度二维分布；
S32：利用高温谱线对求解温度和组分浓度二维分布，其中积分吸光度小于设定阈值的采用A3_sim_mod替代；
S33：计算光线M穿过的网格，将其温度和组分浓度结果采用低温谱线对求解结果，其他网格结果为采用高温谱线对的求解结果。
6.根据权利要求4或5所述的基于多条吸收谱线测量宽范围温度二维分布的方法，其特征在于，设定阈值选取0.001cm-1。
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