[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读存储介质

说明书

[要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中，无法一起检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置，包括：电连接部，电连接于发光元件面板，所述发光元件面板具有沿着行方向及列方向排列且分别包含发光元件的多个单元；光源部，对多个单元一起照射光；读出部，针对发光元件面板的各行，在沿着列方向排列的2个以上单元的各单元中读出利用发光元件将光进行光电转换后的光电信号；测定部，测定从多个单元的各单元读出的光电信号；以及判定部，基于测定部的测定结果来判定多个单元的各单元是否良好。

技术领域

本发明涉及一种试验装置、试验方法及计算机可读存储介质。

背景技术

已知有如下方法，即，使成为检查对象的一对LED(Light Emitting Diode，发光二极管)中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检测LED的光学特性(例如，参照专利文献1、2)。

[背景技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利特表2019-507953号公报

[专利文献2]日本专利特开2010-230568号公报

发明内容

[发明要解决的问题]

然而，所述方法中，必须使各LED依次发光来进行检查，无法一起检查多个LED的光学特性。

[解决问题的技术手段]

本发明的一个方面提供一种试验装置。试验装置可具备电连接部，所述电连接部电连接于发光元件面板，所述发光元件面板具有沿着行方向及列方向排列且分别包含发光元件的多个单元。试验装置也可具备光源部，所述光源部对多个单元一起照射光。试验装置也可具备读出部，所述读出部针对发光元件面板的各行，在沿着列方向排列的2个以上单元的各单元中读出利用发光元件将光进行光电转换后的光电信号。试验装置也可具备测定部，所述测定部测定从多个单元的各单元读出的光电信号。试验装置也可具备判定部，所述判定部基于测定部的测定结果来判定多个单元的各单元是否良好。

读出部可在对发光元件面板照射光期间，从沿着列方向排列的2个以上单元的各单元读出光电信号。

判定部可将多个单元中的至少1个单元判定为不良，所述至少1个单元中包含所测得的光电信号处于正常范围外的至少1个发光元件。

判定部可使用以与多个发光元件分别输出的光电信号对应的统计量为基准的范围来作为正常范围。

判定部可使用根据发光元件的各种发光颜色而不同的正常范围。

在沿着列方向排列的多个单元中，可将彼此发出相同颜色的多个同色发光元件相互连接。判定部可使用针对相互连接的多个同色发光元件测定的光电信号的平均电流量及标准偏差。

在沿着列方向排列的多个单元中，可将彼此发出相同颜色的多个同色发光元件相互连接。判定部可使用针对多个同色组件分别测定的光电信号的平均电流量及标准偏差，所述多个同色组件是将相互连接的多个同色发光元件以2个以上发光元件为单位划分所得。

本发明的一个方面提供一种试验方法。试验方法可具备电连接阶段，所述电连接阶段是将电连接部电连接于发光元件面板，所述发光元件面板具有沿着行方向及列方向排列且分别包含发光元件的多个单元。试验方法也可具备照射阶段，所述照射阶段是对多个单元一起照射光。试验方法也可具备读出阶段，所述读出阶段是针对发光元件面板的各行，在沿着列方向排列的2个以上单元的各单元中读出利用发光元件将光进行光电转换后的光电信号。试验方法也可具备测定阶段，所述测定阶段是测定从多个单元的各单元读出的光电信号。试验方法也可具备判定阶段，所述判定阶段是基于测定阶段的测定结果来判定多个单元的各单元是否良好。