[发明专利]用于延长嵌入式处理器的寿命的方法、系统、装置和制造物在审
申请号: | 202111319276.2 | 申请日: | 2021-11-09 |
公开(公告)号: | CN114661451A | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | G·康德普拉姆;C·拉沃;V·德瓦尔 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06F9/50 | 分类号: | G06F9/50;G06F11/30;G06F15/78 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;岳磊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 延长 嵌入式 处理器 寿命 方法 系统 装置 制造 | ||
1.一种装置,包括:
策略选择器,其用于基于输入信息选择策略以延长具有多个内核的微处理器的操作寿命跨度;
内核分区器,其用于基于所选择的策略将所述微处理器的所述多个内核划分为包括第一子集和第二子集的内核子集;
传感器,其用于基于所选择的策略监控所述多个内核的至少一个操作参数;和
内核切换器,其用于基于所述至少一个操作参数将所述第一内核子集中的第一内核从有效切换为无效并且将所述第二内核子集中的第二内核从无效切换为有效,所述内核切换器进行的切换用于减少所述第一内核和所述第二内核所经历的退化量。
2.如权利要求1所述的装置,其中,所述策略的选择所基于的所述输入信息包括用户偏好、安装所述微处理器的产品类型、所述产品将要进行操作的应用或所述产品将要进行操作的环境中的至少一个。
3.如权利要求1所述的装置,其中,在所述微处理器的操作期间,所述多个内核中的至少一些是无效的,并且所述多个内核中的至少一些是有效的。
4.如权利要求1所述的装置,其中,所述多个内核被额定为在第一温度在第一环境中进行操作,在第二温度在第二环境中进行操作,所述第二温度加速所述多个内核的硅的退化,所述第二温度高于所述第一温度,并且所述内核切换器进行操作以限制所述多个内核中的任何一个在所述第二环境中进行操作的时间量。
5.如权利要求1-4中任一项所述的装置,还包括:操作转移编排器,其用于编排在所述第一内核处执行的操作将要转移到所述第二内核的操作的转移,所述操作转移编排器响应于来自所述内核切换器的通知编排所述操作的转移,并且所述操作将要在所述第一内核切换为无效之前并且在所述第二内核切换为有效之后转移。
6.如权利要求1-4中任一项所述的装置,还包括:工作负载编排器,其用于比较所述第一内核的工作负载与所述第二内核的工作负载容量,所述比较用于由所述内核切换器用以在发放切换命令之前确定所述第二内核是否具有用于所述第一内核的所述工作负载的足够容量,所述内核切换器用于当所述第二内核受确定为具有用于所述第一内核的所述工作负载的足够容量时发放所述切换命令。
7.如权利要求1-4中任一项所述的装置,还包括:内核相互切换配置器,其用于将所述第一内核和所述第二内核配置为在无效与有效状态之间进行切换,配置所述第一内核和所述第二内核包括以下中的至少一个:(i)将所述第一内核和所述第二内核配置为与彼此进行通信,(ii)将所述第一内核和所述第二内核配置为接收并且响应于有效信号和无效信号,或(iii)将与所述第一内核和所述第二内核关联的存储器配置为具有相同地址。
8.如权利要求1-4中任一项所述的装置,其中,所述传感器包括多个传感器,并且所述操作参数包括温度、时间或内核使用中的至少一个。
9.如权利要求8所述的装置,其中,所述多个传感器包括内核使用传感器、数字热传感器或定时器中的至少一个,所述数字热传感器感测与所述多个内核关联的结温度,所述内核使用传感器测量所述内核中的各个内核的各个工作负载或所述内核中的各个内核的各个操作速度中的至少一个,并且所述定时器测量所述内核的操作时间量。
10.如权利要求1-4中任一项所述的装置,还包括:时间序列日志器,其用于生成由一个或多个传感器收集的数据的时间序列日志,所述数据用以比较第一内核的第一操作参数与第二内核的第一操作参数,所述第一内核和所述第二内核的所述第一操作参数在相同时间受感测,并且所述比较由所述内核切换器用以标识用于将所述第一内核从有效切换为无效和用于将所述第二内核从无效切换为有效的时间。
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