[发明专利]图像处理方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种图片处理方法，其特征在于，包括：

获取待处理图像和参考图像，所述参考图像为经过修图处理后的图像；

确定所述参考图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作；

根据所述修图操作生成对应的目标图层；

在接收到针对所述目标图层迁移的情况下，将所述目标图层对应的操作迁移到所述待处理图像中。

2.根据权利要求1所述的方法，确定所述参考图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作，包括：

根据所述待处理图像与所述参考图像对应区域的单位像素，分别生成所述待处理图像的第一像素值和所述参考图像的第二像素值；

通过比对所述第一像素值和所述第二像素值，确定所述参考图像中存在像素差异的目标区域，以及所述目标区域对应的像素差值；

基于所述像素差值，确定所述参考图像中目标区域对应的修图操作。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述参考图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作，还包括：

根据所述目标区域的区域面积，将所述目标区域进行分类；

基于所述参考图像中第一类别对应的目标区域对应的像素差值，去除所述第一类别对应的目标区域对应的修图操作，获得第一参考子图像；

基于所述第一参考子图像与所述待处理图像的像素差值，确定所述第一参考子图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述参考图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作，还包括：

根据所述目标区域的区域面积，将所述目标区域进行分类；

基于所述参考图像中第二类别对应的目标区域对应的像素差值，去除所述第二类别对应的目标区域对应的修图操作，获得第二参考子图像；

基于所述第二参考子图像与所述待处理图像的像素差值，确定所述第二参考子图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各第一区域，及各第一区域对应的第一修图操作；

基于所述参考图像中第二类别对应的目标区域对应的像素差值，未去除所述第二类别对应的目标区域对应的修图操作，获得第三参考子图像；

基于所述第三参考子图像与所述待处理图像的像素差值，确定所述第三参考子图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各第二区域，及各第二区域对应的第二修图操作；

基于所述第一修图操作和所述第二修图操作，确定所述参考图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，根据所述修图操作生成对应的目标图层，包括：

将所述修图操作与所述预设图谱数据库进行匹配，获取所述目标修图操作效果对应的修图操作的流程步骤；

根据所述修图操作的流程步骤，确定所述目标区域对应的图层。

6.一种图片处理装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待处理图像和参考图像，所述参考图像为经过修图处理后的图像；

确定模块，用于确定所述参考图像中，与所述待处理图像存在图像差异的各区域，及各区域对应的修图操作；

生成模块，用于根据所述修图操作生成对应的目标图层；

迁移模块，用于在接收到针对所述目标图层迁移的情况下，将所述目标图层对应的操作迁移到所述待处理图像中。

7.根据权利要求6所述的装置，所述确定模块，具体包括：

生成子模块，用于根据所述待处理图像与所述参考图像对应区域的单位像素，分别生成所述待处理图像的第一像素值和所述参考图像的第二像素值；

比对子模块，用于通过比对所述第一像素值和所述第二像素值，确定所述参考图像中存在像素差异的目标区域，以及所述目标区域对应的像素差值；

基于所述像素差值，确定所述参考图像中目标区域对应的修图操作。