[发明专利]存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制器

说明书

本发明提供一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制器。所述方法包括：对第一实体单元执行坏块处置并暂停使用所述第一实体单元；在对所述第一实体单元执行所述坏块处置且经过预设时间后，对所述第一实体单元执行读取检测；以及响应于所述第一实体单元通过所述读取检测，恢复使用所述第一实体单元。藉此，可在存储器模块的可靠度与装置效能之间取得平衡。

技术领域

本发明涉及一种存储器管理技术，且尤其涉及一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制器。

背景技术

随着半导体制程技术的日新月异，快闪存储器持续朝向体积小且容量大的方向发展。但是，更小的存储单元及更多的存储比特数，所伴随而来的是存储单元的最大写入抹除次数降低和/或可用的实体区块的数目减少。这些不利因素都可能导致快闪存储的使用寿命缩短。此外，目前市面上大部分的快闪存储器都支持坏块管理技术。当快闪存储器中的特定实体块的比特错误率过高、数据无法读取、数据无法复原和/或读写次数过高时，此实体块可能会被标记为坏块并且永久停止使用，以避免对整个快闪存储器的可靠度造成影响。但是，长时间下来，上述坏块管理技术也会导致快闪存储器中的可用实体块的数量不断下降，进而影响快闪存储器的装置效能及耐用度。

发明内容

本发明提供一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制器，可针对符合条件的坏块进行回收再利用，从而改善上述问题。

本发明的实施例提供一种存储器管理方法，其用于存储器模块，所述存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器管理方法包括：对所述多个实体单元中的第一实体单元执行坏块处置并暂停使用所述第一实体单元；在对所述第一实体单元执行所述坏块处置且经过预设时间后，对所述第一实体单元执行读取检测；以及响应于所述第一实体单元通过所述读取检测，恢复使用所述第一实体单元。

本发明的实施例另提供一种存储器存储装置，其包括连接接口、存储器模块及存储器控制器。所述连接接口用以连接至主机系统。所述存储器模块包括多个实体单元。所述存储器控制器连接至所述连接接口与所述存储器模块。所述存储器控制器用以：对所述多个实体单元中的第一实体单元执行坏块处置并暂停使用所述第一实体单元；在对所述第一实体单元执行所述坏块处置且经过预设时间后，对所述第一实体单元执行读取检测；以及响应于所述第一实体单元通过所述读取检测，恢复使用所述第一实体单元。

本发明的实施例另提供一种存储器控制器，其包括主机接口、存储器接口及存储器控制电路。所述主机接口用以连接至主机系统。所述存储器接口用以连接至存储器模块。所述存储器模块包括多个实体单元。所述存储器控制电路连接至所述主机接口与所述存储器接口。所述存储器控制电路用以：对所述多个实体单元中的第一实体单元执行坏块处置并暂停使用所述第一实体单元；在对所述第一实体单元执行所述坏块处置且经过预设时间后，对所述第一实体单元执行读取检测；以及响应于所述第一实体单元通过所述读取检测，恢复使用所述第一实体单元。

基于上述，在对所述第一实体单元执行所述坏块处置且经过预设时间后，可对所述第一实体单元执行读取检测。响应于所述第一实体单元通过所述读取检测，可恢复使用所述第一实体单元。通过对符合条件的坏块进行回收再利用，可在存储器模块的可靠度与装置效能(及存储器模块的耐用度)之间取得平衡。

附图说明

图1是根据本发明的实施例所示出的存储器存储装置的示意图；

图2是根据本发明的实施例所示出的存储器控制器的示意图；

图3是根据本发明的实施例所示出的管理存储器模块的示意图；

图4是根据本发明的实施例所示出的预设读取电压电平的示意图；

图5是根据本发明的实施例所示出的预设读取电压电平与最佳读取电压电平的示意图；

图6是根据本发明的实施例所示出的软决策读取电压电平的示意图；