[发明专利]设备测试方法和电子设备

说明书

本申请提供一种设备测试方法和电子设备，涉及终端技术领域。该设备测试方法，包括：测试设备获取测试用例集合。其中，测试用例集合中包括N个测试用例，N为大于1的整数，任一个测试用例中包括的测试目标的数量小于第一阈值，且大于或等于第二阈值。测试设备按照N个测试用例中测试目标的数量由大到小的顺序，测试多个测试样机。由于测试用例包括测试目标的数量小于第一阈值，则输出测试用例对应的测试结果的时长较短。另外，又由于测试用例包括测试目标的数量大于或等于第二阈值。这样，在总的测试目标的数量一定的情况下，可以减少测试用例集合中的测试用例的数量。进而，还可以兼顾节省调度完所有测试用例的总时间损耗。

技术领域

本申请涉及终端技术领域，尤其涉及一种设备测试方法和电子设备。

背景技术

终端设备在出厂前，通常需要对终端设备的测试样机进行模糊测试（fuzztesting），又称为安全性测试。

目前，对测试样机的模糊测试的方式可以为：测试设备将海量的测试目标编辑为多个测试用例，并选择待测试的测试样机集合。测试设备判断是否存在未执行的测试用例，如果是，则遍历测试样机集合中是否存在空闲的测试样机。如果存在，则将一个测试用例分配该测试样机。进而，测试设备对分配有测试用例的测试样机进行测试。同时，测试设备记录测试样机基于测试用例执行对应的测试功能时的测试日志。在任一个测试用例测试完毕后，解析该测试用例对应的测试日志，并输出测试结果，以便测试人员感知到测试结果。

通常情况下，在测试的过程中，要么测试设备输出任一个测试用例对应的测试结果的时长较长；或者，将所有测试用例测试完毕后，调度完所有测试用例的总时间损耗较大。

发明内容

本申请提供一种设备测试方法和电子设备，可以使得输出测试用例对应的测试结果的时长较短，且还可以兼顾节省调度完所有测试用例的总时间损耗。

第一方面，本申请提供的一种设备测试方法，包括：测试设备获取测试用例集合。其中，测试用例集合中包括N个测试用例，N为大于1的整数，任一个测试用例中包括的测试目标的数量小于第一阈值，且大于或等于第二阈值。测试设备按照N个测试用例中测试目标的数量由大到小的顺序，测试多个测试样机。

本申请提供的设备测试方法，由于测试用例包括测试目标的数量小于第一阈值，则输出测试用例对应的测试结果的时长较短。另外，又由于测试用例包括测试目标的数量大于或等于第二阈值。这样，在总的测试目标的数量一定的情况下，可以减少测试用例集合中的测试用例的数量。进而，还可以兼顾节省调度完所有测试用例的总时间损耗。

在一种可能的实施方式中，测试设备获取测试用例集合，包括：测试设备获取测试目标集合。测试设备按照预设的M个数量维度，将测试目标集合编辑为M个测试用例组，得到测试用例集合。其中，同一个测试用例组中的测试用例对应的数量维度相同，任意两组测试用例组之间的测试用例对应的数量维度不同，M为大于1的整数。

这样，由于任意两组测试用例组之间的测试用例对应的数量维度不同，当测试进度越往后时，多个测试样机分配到的测试用例中的测试目标的数量越小。如此，可以使得测试用例能够更均匀地分配到各个测试样机，提高了多个测试样机之间的负载均衡。

进一步地，测试设备按照预设的M个数量维度，将测试目标集合编辑为M个测试用例组，包括：测试设备从M个数量维度中，提取第n大的数量维度，其中，n的初始值为1。测试设备判断L1/（L2+b）是否大于第n大的数量维度，L1为剩余的测试目标的数量，L2为测试样机的数量，b为调节因子，且b为整数。如果是，则测试设备编辑N1个第n大的数量维度对应的测试用例。其中，N1=[L1-K(L2+b)]/K，K为第n大的数量维度。测试设备对n的值加1，并返回执行从M个数量维度中提取第n大的数据维度的步骤，直到M个数量维度被提取完毕。如果否，则测试设备对n的值加1，并返回执行从M个数量维度中提取第n大的数据维度的步骤，直到M个数量维度被提取完毕。