[发明专利]设备测试方法和电子设备

权利要求书

1.一种设备测试方法，其特征在于，所述方法包括：

测试设备获取测试用例集合，其中，所述测试用例集合中包括N个测试用例，N为大于1的整数，任一个所述测试用例中包括的测试目标的数量小于第一阈值，且大于或等于第二阈值；

其中，所述测试设备获取测试用例集合，包括：

所述测试设备获取测试目标集合；

所述测试设备按照预设的M个数量维度，将所述测试目标集合编辑为M个测试用例组，得到所述测试用例集合，其中，同一个所述测试用例组中的测试用例对应的数量维度相同，任意两组所述测试用例组之间的测试用例对应的数量维度不同，M为大于1的整数；

所述测试设备按照预设的M个数量维度，将所述测试目标集合编辑为M个测试用例组，包括：

所述测试设备从所述M个数量维度中，提取第n大的数量维度，其中，n的初始值为1；

所述测试设备判断L1/(L2+b)是否大于所述第n大的数量维度，L1为剩余的测试目标的数量，L2为所述测试样机的数量，b为调节因子，且b为整数；

如果是，则所述测试设备编辑N1个所述第n大的数量维度对应的测试用例，其中，N1＝[L1-K(L2+b)]/K，K为第n大的数量维度；

所述测试设备对n的值加1，并返回执行所述从所述M个数量维度中提取第n大的数据维度的步骤，直到所述M个数量维度被提取完毕；

如果否，则所述测试设备对n的值加1，并返回执行所述从所述M个数量维度中提取第n大的数据维度的步骤，直到所述M个数量维度被提取完毕；

所述测试设备按照所述N个测试用例中测试目标的数量由大到小的顺序，测试多个测试样机。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述M个数量维度之间呈等比数列。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试设备按照所述N个测试用例中测试目标数量由大到小的顺序，测试所述多个测试样机，包括：

所述测试设备判断是否存在剩余的测试用例；

若存在剩余的测试用例，则所述测试设备遍历是否存在空闲的测试样机；

若存在空闲的测试样机，则所述测试设备给所述空闲的测试样机分配所述剩余的测试用例中，包含测试目标的数量最大的测试用例；

所述测试设备基于已分配的测试用例测试所述测试样机，直到不存在剩余的测试用例。

4.根据权利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，

所述第一阈值满足：1000≥第一阈值≥500；

所述第二阈值满足：10≥第二阈值≥1。

5.根据权利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，在所述测试设备获取测试用例集合之前，所述方法还包括：

所述测试设备显示第一界面；

所述测试设备在所述第一界面接收输入的多个待测试样机以及初始测试用例；

所述测试设备获取测试用例集合，包括：

所述测试设备分解所述初始测试用例，得到测试目标集合；

所述测试设备编辑所述测试目标集合中的测试目标，获取所述测试用例集合。

6.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，使得所述电子设备执行如权利要求1至5任一项所述的方法。

7.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，使得计算机执行如权利要求1至5任一项所述的方法。