[发明专利]一种样本分析仪及其计数方法

权利要求书

1.一种样本分析仪计数的计数方法，其特征在于，所述样本分析仪用于对样本的粒子进行计数，所述计数方法包括：

对粒子的计数信号进行分析处理，得到特征参数；

根据特征参数获取在单位时间段内的粒子数，得到粒子数序列；

分析粒子数序列的有效性，得到有效的粒子数序列；

根据有效的粒子数序列得到粒子的计数结果。

2.根据权利要求1所述的计数方法，其特征在于，所述特征参数包括所述粒子的脉冲数量以及每个所述脉冲的特征信息，所述特征信息包括脉冲峰值、脉冲位置、脉冲宽度以及时间戳。

3.根据权利要求2所述的计数方法，其特征在于，所述根据所述特征参数，获取在单位时间段内的粒子数的步骤包括：

根据所述粒子的脉冲数量和每个所述脉冲的时间戳，得到在所述单位时间段内的粒子数。

4.根据权利要求3所述的计数方法，其特征在于，在所述分析所述粒子数序列的有效性的步骤之前，所述计数方法还包括：

获取所述粒子的总计数时间，将所述总计数时间除以所述单位时间段的长度，得到所述粒子数序列的长度。

5.根据权利要求4所述的计数方法，其特征在于，所述粒子数序列包括多个数据点，所述分析所述粒子数序列的有效性的步骤包括：

计算所述粒子数序列的第二平均值和第二标准差；

获取所述粒子数序列中每个所述数据点和所述第二平均值的差值的绝对值，并判断所述差值的绝对值是否在预设范围内，其中所述预设范围为所述第二标准差的n倍；

若是，则得到有效的数据点，根据所有所述有效的数据点得到所述有效的粒子数序列。

6.根据权利要求5所述的计数方法，其特征在于，所述计算所有的所述粒子数序列的第二平均值的步骤包括：

获取所述粒子数序列的总粒子数，将所述总粒子数除以所述粒子数序列的长度，得到所述第二平均值。

7.根据权利要求5所述的计数方法，其特征在于，所述根据所述有效的粒子数序列得到所述粒子的计数结果的步骤包括：

计算所述有效的粒子数序列的第一平均值；

将所述第一平均值乘以所述粒子数序列的长度，得到所述计数结果。

8.根据权利要求7所述的计数方法，其特征在于，所述计算所述有效的粒子数序列的第一平均值的步骤包括：

根据所述有效的粒子数序列获取所述有效的粒子数序列的长度；

获取所述有效的粒子数序列的总粒子数，将所述有效的粒子数序列的总粒子数除以所述有效的粒子数序列的长度，得到所述第一平均值。

9.根据权利要求1所述的计数方法，其特征在于，在所述得到有效的粒子数序列的步骤之后，所述计数方法还包括：

根据所述有效的粒子数序列对应的特征信息，生成对应的第二直方图；

获取所述有效的粒子数序列的第一参数和所述第二直方图的第二参数；

判断所述第一参数或/和所述第二参数是否位于异常范围内；

若是，判断所述样本分析仪计数异常。

10.一种样本分析仪，其特征在于，包括：

粒子计数模块，用于对样本的粒子进行计数，产生所述粒子的计数信号；

存储模块，用于存储程序数据；

控制模块，与所述粒子计数模块和所述存储模块连接，用于执行所述程序数据以实现如权利要求1-9中任一项所述的计数方法。