[发明专利]用于测量时间的方法和装置有效

专利信息
申请号: 202111204433.5 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN113641089B 公开(公告)日: 2022-01-21
发明(设计)人: 陈柳平;范永胜;付仁清;张国峰;万相奎;张建 申请(专利权)人: 国开启科量子技术(北京)有限公司
主分类号: G04F10/00 分类号: G04F10/00;H04B10/079;H04B10/70;G01J1/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100193 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 时间 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测量时间的方法,其特征在于,所述方法包括:

接收START信号和STOP信号;

使用同一时钟对所述信号进行采样,以产生与所述START信号对应的START比特串以及与所述STOP信号对应的STOP比特串,在所述比特串中以第一比特指示所述信号中的高电平,以第二比特指示所述信号中的低电平;

从所述START比特串中提取所述START信号的上升沿,从所述STOP比特串中提取所述STOP信号的上升沿,其中,所述START信号的上升沿对应于所述START比特串中的由第二比特跳变至第一比特的比特位,所述STOP信号的上升沿对应于所述STOP比特串中的由第二比特跳变至第一比特的比特位;

基于所述START信号的上升沿与所述STOP信号的上升沿之间的比特位的计数以及所述时钟的周期来确定所述START信号与所述STOP信号之间的时间间隔。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,从所述START比特串中提取所述START信号的上升沿,从所述STOP比特串中提取所述STOP信号的上升沿的步骤包括:

将所述START比特串和所述STOP比特串从串行数据转换成并行数据;

将所述并行数据中的包括连续相邻的多个第一比特的并行数据处理成独热码,所述独热码的有效位对应于所述比特串中的由第二比特跳变至第一比特的比特位;

将所述START比特串中的独热码的有效位提取为所述START信号的上升沿,将所述STOP比特串中的独热码的有效位提取为所述STOP信号的上升沿。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述START信号的上升沿与所述STOP信号的上升沿之间的比特位的计数以及所述时钟的周期来确定所述START信号与所述STOP信号之间的时间间隔的步骤包括:

根据在所述START信号的上升沿所在的并行数据与所述STOP信号的上升沿所在的并行数据之间包括的并行数据中的比特位的计数以及所述时钟的周期来计算所述START信号与所述STOP信号之间的粗测时间间隔;

根据所述START信号的上升沿所在的比特位以及所述时钟的周期来计算针对所述START信号的上升沿的第一细测时间间隔;

根据所述STOP信号的上升沿所在的比特位以及所述时钟的周期来计算针对所述STOP信号的上升沿的第二细测时间间隔;

将所述粗测时间间隔、所述第一细测时间间隔和所述第二细测时间间隔汇总求和,以得到所述START信号与所述STOP信号之间的时间间隔。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述并行数据的位宽为8位、16位、32位和64位中的一者。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一比特为1,所述第二比特为0。

6.一种用于测量时间的装置,其特征在于,所述装置包括:

信号接收单元,被配置为接收START信号和STOP信号;

比特串产生单元,被配置为使用同一时钟对所述信号进行采样,以产生与所述START信号对应的START比特串以及与所述STOP信号对应的STOP比特串,在所述比特串中以第一比特指示所述信号中的高电平,以第二比特指示所述信号中的低电平;

上升沿提取单元,被配置为从所述START比特串中提取所述START信号的上升沿,从所述STOP比特串中提取所述STOP信号的上升沿,其中,所述START信号的上升沿对应于所述START比特串中的由第二比特跳变至第一比特的比特位,所述STOP信号的上升沿对应于所述STOP比特串中的由第二比特跳变至第一比特的比特位;以及

时间测量单元,被配置为基于所述START信号的上升沿与所述STOP信号的上升沿之间的比特位的计数以及所述时钟的周期来确定所述START信号与所述STOP信号之间的时间间隔。

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