[发明专利]一种芯片测试夹具

说明书

本申请涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试夹具，包括固定台、放置台和压紧机构；放置台设置于固定台上；压紧机构包括连接柱、支撑柱、固定板、卡块、第一滑块、限位杆、第一弹簧和夹板；连接柱和支撑柱均固定于固定台上；固定板套接于连接柱，固定板的第一端与支撑柱转动连接，固定板的第二端通过第一弹簧与夹板连接；夹板与放置台之间形成压紧芯片的压紧空间；限位杆的第一端与夹板连接，限位杆的第二端滑动穿设于固定板；固定板上设有第一滑槽，第一滑块和卡块连接，连接柱上设有卡槽；第一滑块在第一滑槽内运动，使得卡块与卡槽卡接配合。本申请有效地解决了现有技术中存在对芯片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试夹具。

背景技术

芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，为了检验芯片是否能够正常使用，需要对芯片进行可靠性测试。可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。

现有的测试夹具利用容纳结构来放置校准件及芯片托板，能够使校准件与芯片托板相接触。同时，微调结构安装于底座上，且微调结构用于调节并固定校准件及芯片托板的位置，以达到了提高测试精准度的效果；但是现有的测试夹具由于结构设计单一，对芯片的夹紧不够牢固，导致了芯片容易偏移的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试夹具，有效地解决了现有技术中存在对芯片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。

为达到上述目的，本申请提供以下技术方案：

一种芯片测试夹具，包括固定台、放置台和压紧机构；

所述放置台设置于所述固定台上；

所述压紧机构包括连接柱、支撑柱、固定板、卡块、第一滑块、限位杆、第一弹簧和夹板；

所述连接柱和所述支撑柱均固定于所述固定台上；

所述固定板套接于所述连接柱上，所述固定板的第一端与所述支撑柱转动连接，所述固定板的第二端通过所述第一弹簧与所述夹板连接；

所述夹板位于所述放置台的正上方，且与所述放置台之间形成压紧所述芯片的压紧空间；

所述限位杆的第一端与所述夹板连接，所述限位杆的第二端滑动穿设于所述固定板；

所述固定板上设有与所述第一滑块相对应的第一滑槽，所述第一滑块和所述卡块连接，所述连接柱上设有与所述卡块相对应的卡槽；

所述第一滑块在所述第一滑槽内运动，使得所述卡块与所述卡槽卡接配合。

优选地，在上述的芯片测试夹具中，还包括推拉杆；

所述固定板上开设有第一通孔，所述第一通孔的内壁上转动设有齿轮；

所述卡块上设有与所述第一通孔相对应的第二通孔，所述第二通孔的内壁上设有第一转杆；

所述推拉杆的第一端设有设有与所述齿轮啮合传动连接的齿面，所述推拉杆的第二端穿过所述第一通孔和所述第二通孔延伸至外部；

所述推拉杆上设有长圆孔，所述第一转杆活动设置于所述长圆孔内。

优选地，在上述的芯片测试夹具中，还包括定位机构；