[发明专利]一种存储器管脚的寄存器分配方法、系统及装置

说明书

本发明公开了一种存储器内建自测试下，存储器管脚的寄存器分配方法、系统及装置。本申请为芯片上位于同一类型的不同存储器上、且管脚位宽和初始化配置值均一致的存储器管脚分配同一寄存器，大大减少了为芯片上存储器管脚分配的寄存器数量，从而减少了芯片的面积及成本，且减少了芯片的RTL设计的编写工作量及编写错误率，实现全自动化流程，降低了人力成本和人为犯错机率。

技术领域

本发明涉及存储器领域，特别是涉及一种存储器管脚的寄存器分配方法、系统及装置。

背景技术

在对存储器进行MBIST(MemoryBuilt-inSelfTest，存储器内建自测试)设计的过程中，需要给存储器提供相应的控制器，以便在MBIST测试中控制存储器的行为。

目前，存储器的管脚在MBIST测试前需要被初始化，以使存储器调整到测试状态，即需要设置外部电路来初始化存储器的管脚。基于控制器和存储器上与MBIST测试相关的测试管脚相连接，所以这些测试管脚通常通过控制器来实现初始化，但除了这些测试管脚，存储器上还有一些未与控制器连接的管脚也需要被初始化，如功耗控制管脚和时序调整管脚，否则会影响存储器的MBIST测试效果，目前常采用增设TDR(Test Data Register，测试数据寄存器)的方式来配置这些待初始化的管脚，具体是一个管脚上连接一个TDR寄存器，将管脚对应的初始化配置值写入所连接的寄存器即可。

但是，在大型的SOC(System on Chip，片上系统)芯片中可能存在几百个甚至数量更多的存储器，这些存储器加起来可能有几千个管脚需要寄存器来配置，导致寄存器数量较多，从而导致芯片面积较大且成本较高。另外，SOC芯片的RTL(Register TransferLevel，寄存器转换级电路)设计是人工编写硬件描述语言来描述电路结构及电路功能，如果人工在RTL设计中编写这么多的寄存器，会是十分繁重和复杂的工作；而且，人工在RTL设计中编写这么多的寄存器很大概率会引入错误，从而增加犯错成本。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种存储器管脚的寄存器分配方法、系统及装置，基于存储器内建自测试，大大减少了为芯片上存储器管脚分配的寄存器数量，从而减少了芯片的面积及成本，且减少了芯片的RTL设计的编写工作量及编写错误率，实现全自动化流程，降低了人力成本和人为犯错机率。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种存储器管脚的寄存器分配方法，基于存储器内建自测试，包括：

将芯片上的各存储器按照存储器类型进行分类，得到所述芯片上同一类型的存储器；

根据所述同一类型的存储器的管脚初始化需求，确定所述同一类型的存储器上需采用寄存器配置的目标管脚；

根据预设的同一类型下存储器参数与管脚初始化配置值的对应关系，确定同一类型的每个存储器上目标管脚的初始化配置值；

为位于同一类型的不同存储器上、且管脚位宽和初始化配置值均一致的目标管脚分配同一寄存器，以完成所述各存储器上目标管脚的寄存器分配。

可选地，同一类型下存储器参数与管脚初始化配置值的对应关系的预设过程，包括：

根据所述各存储器的类型、深度、位宽、列多用复用选择器及电压阈值，相应为所述各存储器上每个需采用寄存器配置的管脚定义初始化配置值，以得到同一类型下存储器参数与管脚初始化配置值的对应关系。

可选地，为位于同一类型的不同存储器上、且管脚位宽和初始化配置值均一致的目标管脚分配同一寄存器，包括：

为所述各存储器上的目标管脚一一分配寄存器；

将位于同一类型的不同存储器上、且管脚位宽和初始化配置值均一致的目标管脚所分配的寄存器进行合并。