[发明专利]计算机断层扫描设备及其控制方法在审
申请号: | 202111191330.X | 申请日: | 2021-10-13 |
公开(公告)号: | CN113907780A | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | 梁宏锋 | 申请(专利权)人: | 武汉联影生命科学仪器有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/00 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 周长梅 |
地址: | 430206 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 计算机 断层 扫描 设备 及其 控制 方法 | ||
1.一种计算机断层扫描设备,包括基座、旋转基板、安装于所述旋转基板上的X射线源和X射线探测器、用于承载物体的承载模块、用于驱动所述旋转基板的第一驱动设备、用于驱动所述承载模块的第二驱动设备,其特征在于,还包括:控制器、至少一个第一振动传感器和/或至少一个第二振动传感器,其中,
所述至少一个第一振动传感器,用于采集所述第一驱动设备驱动所述旋转基板所引起的第一振动强度;
所述至少一个第二振动传感器,用于采集所述第二驱动设备驱动所述承载模块所引起的第二振动强度;
所述控制器分别与所述X射线源、所述X射线探测器相耦合,以及与所述至少一个第一振动传感器和/或所述至少一个第二振动传感器相耦合,用于在检测到所述第一振动强度小于第一预设阈值和/或所述第二振动强度小于第二预设阈值的情况下,控制所述X射线源扫描所述物体和/或控制所述X射线探测器采集所述物体的投影数据。
2.根据权利要求1所述的计算机断层扫描设备,其特征在于,所述至少一个第一振动传感器安装于下述中的至少一个位置:所述第一驱动设备、所述旋转基板、所述X射线源、所述X射线探测器、所述承载模块、所述物体。
3.根据权利要求1所述的计算机断层扫描设备,其特征在于,所述至少一个第二振动传感器安装于所述第二驱动设备、所述承载模块、所述物体。
4.根据权利要求1所述的计算机断层扫描设备,其特征在于,所述控制器,还用于在检测到所述第一振动强度大于等于所述第一预设阈值情况下,按照第一预设频率持续检测所述第一振动强度,直至检测到所述第一振动强度小于第一预设阈值;
和/或,在检测到所述第二振动强度大于等于所述第二预设阈值情况下,按照第二预设频率持续检测所述第二振动强度,直至检测到所述第二振动强度小于第二预设阈值。
5.根据权利要求1所述的计算机断层扫描设备,其特征在于,所述控制器在下述至少一种情况下,获取所述第一振动强度,和/或所述第二振动强度:
所述X射线探测器完成上一次数据采集;
需要调整对所述物体的采集角度;
满足预设时间间隔的条件。
6.一种计算机断层扫描设备的控制方法,所述计算机断层扫描设备包括旋转基板、安装于所述旋转基板上的X射线源和X射线探测器、用于承载物体的承载模块、用于驱动所述旋转基板的第一驱动设备、用于驱动所述承载模块的第二驱动设备,其特征在于,所述方法包括:
获取所述第一驱动设备驱动所述旋转基板所引起的第一振动强度,和/或所述第二驱动设备驱动所述承载模块所引起的第二振动强度;
在检测到所述第一振动强度小于第一预设阈值和/或所述第二振动强度小于第二预设阈值的情况下,控制所述X射线源扫描所述物体和/或控制所述X射线探测器采集所述物体的投影数据。
7.根据权利要求6所述的计算机断层扫描设备的控制方法,其特征在于,还包括:
在检测到所述第一振动强度大于等于所述第一预设阈值情况下,按照第一预设频率持续检测所述第一振动强度,直至检测到所述第一振动强度小于第一预设阈值;
和/或,在检测到所述第二振动强度大于等于所述第二预设阈值情况下,按照第二预设频率持续检测所述第二振动强度,直至检测到所述第二振动强度小于第二预设阈值。
8.根据权利要求6所述的计算机断层扫描设备的控制方法,其特征在于,所述获取所述第一驱动设备驱动所述旋转基板所引起的第一振动强度,和/或所述第二驱动设备驱动所述承载模块所引起的第二振动强度,包括:
在下述至少一种情况下,获取所述第一驱动设备驱动所述旋转基板所引起的第一振动强度,和/或所述第二驱动设备驱动所述承载模块所引起的第二振动强度:
所述X射线探测器完成上一次数据采集;
需要调整对所述物体的采集角度;
满足预设时间间隔的条件。
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