[发明专利]应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置

说明书

一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置，属于计算机技术领域。本申请针对计算芯片建立的性能测试模型中，包括计算芯片中的每个数据访问通路的性能测试线。在对应用进行测试时，根据应用的运行状况数据和计算芯片的每个数据访问通路的内存访问量，确定应用的运行性能信息，将应用的运行性能信息，与包含每个数据访问通路的性能测试线的性能测试模型进行比对，可以获取精度更高的测试结果，提高测试准确度和测试精度。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置。

背景技术

目前，各类应用的使用越来越广泛，可以用于解决各行各业的实际问题。在实际使用过程中，对一些应用的性能(如数据处理速度、时延等)的要求较高。例如，在人工智能技术领域，对包含神经网络模型的应用的数据处理速度等有非常严格的要求。因此，为了使应用具有更好的性能，需要对应用的性能进行测试，并依据测试结果对应用程序进行优化。

由于应用需要运行在计算芯片来进行数据处理，应用的性能实际上是指应用在计算芯片上运行时的性能，因此，往往需要结合计算芯片对应用的性能进行测试。

随着计算芯片的结构越来越复杂，目前的应用的性能测试方法，针对结构复杂的计算芯片，无法获得精度和准确度较高的测试结果。

发明内容

本申请实施例提供一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置，可以提高测试准确度和测试精度。

第一方面，本申请实施例提供一种应用的性能测试方法，在对应用进行测试时，在计算芯片上运行应用，该计算芯片包括多个内存单元，不同的内存单元之间的访问路径可以称为数据访问通路，计算芯片内可以存在一个或多个数据访问通路。获取应用在该计算芯片上运行的运行状况数据，以及在应用的运行过程中，该计算芯片的每个数据访问通路的内存访问量，其中，应用的运行状况数据可以包括应用的运行时间，以及在该运行时间内计算芯片中的计算单元的计算量。根据应用的运行状况数据和每个数据访问通路的内存访问量，确定应用的运行性能信息，根据应用的运行性能信息和针对该计算芯片建立的性能测试模型，获得应用的测试结果。其中，性能测试模型是预先针对该计算芯片建立的，用于描述该计算芯片的最佳性能；性能测试模型包括每个数据访问通路的性能测试线。计算芯片的性能测试模型可以根据计算芯片的计算单元的运算能力的峰值和每个数据访问通路的峰值带宽建立的，计算单元的运算能力的峰值和每个数据访问通路的峰值带宽是由测试数据对计算芯片进行测试确定的。

与相关技术中针对计算芯片中的内存单元建立性能测试模型，进而对应用进行测试的方法相比，本申请实施例针对计算芯片建立的性能测试模型中，包括计算芯片中的每个数据访问通路的性能测试线。在对应用进行测试时，根据应用的运行状况数据和计算芯片的每个数据访问通路的内存访问量，确定应用的运行性能信息，将应用的运行性能信息，与包含每个数据访问通路的性能测试线的性能测试模型进行比对，可以获取精度更高的测试结果，提高测试准确度和测试精度。

在一种可能的实现方式中，应用的运行性能信息可以包括每个数据访问通路的分通路性能信息。每个数据访问通路的分通路性能信息可以通过如下方式获得：获取应用的运行时间，以及在该运行时间内计算芯片中的计算单元的计算量，根据获取的计算量和运行时间，确定在应用的运行过程中，计算芯片的运算能力参数。运算能力参数表示在应用的运行过程中，计算芯片在单位时间内完成的计算量。针对每个数据访问通路，根据所述计算量和每个数据访问通路的内存访问量，确定每个数据访问通路的操作强度。一个数据访问通路的操作强度表示该数据访问通路单位内存访问所对应的计算量。根据运算能力参数和每个数据访问通路的操作强度，生成每个数据访问通路的分通路性能信息。

根据每个数据访问通路的分通路性能信息与性能测试模型中每个数据访问通路的性能测试线之间的对比结果，可以获取精度更高的测试结果。