[发明专利]一种具有空腔的高发射率微波黑体源及定标测试方法有效
| 申请号: | 202111136056.6 | 申请日: | 2021-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN113739936B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
| 发明(设计)人: | 严发宝;邹涛;申玉鹏;尚自乾;陈耀;苏艳蕊;武昭;路光 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
| 主分类号: | G01J5/53 | 分类号: | G01J5/53;G01J5/90 |
| 代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 黄海丽 |
| 地址: | 264209 *** | 国省代码: | 山东;37 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 具有 空腔 发射 微波 黑体 定标 测试 方法 | ||
本发明提供了一种具有空腔的高发射率微波黑体源及定标测试方法。该具有空腔的高发射率微波黑体源,包括:空腔、第一定标盒、第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒,所述第二定标盒的开口、第三定标盒的开口、第四定标盒的开口以及第五定标盒的开口均朝向所述空腔,所述第一定标盒、第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒内均设有若干角锥;在进行定标测试时,微波黑体源辐射的亮温度信号,到达空腔内设置的天线馈源,所述天线馈源根据不同的亮温信号得到不同的输出值,基于不同的输出值测定定标系数,进行定标。
技术领域
本发明属于定标源领域,具体涉及一种具有空腔的高发射率微波黑体源及定标测试方法。
背景技术
本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息,不必然构成在先技术。
太阳射电爆发会诱发空间灾害性天气,恶劣的空间天气会对航空设施以及地基观测系统等带来危害,影响设备仪器的正常运行。为了研究太阳活动的规律,探索射电爆发的机理,全球范围内建立了多个多频段的太阳射电观测系统,以达到对太阳长时间、多频段、高精度的观测。因此对黑体辐射源进行研究进而对太阳辐射流量进行定标具有重大意义。
任何物体都会产生热辐射,黑体就是研究热辐射的一种标准物体,其辐射特性仅仅与其物理温度T有关,与材质无关,而自然界中不存在绝对的黑体,我们用发射率e来衡量一个物体是否接近理想的黑体,当物体发射率接近1时,我们认为该物体能够产生一个只与自身物理温度相关的标准微波亮温。然而现存的黑体定标源多以金属锥体作为基体,且需要进行吸波材料的涂覆,制作较为困难,因此本实施例提出了一种以泡沫角锥为基体制作高发射率黑体的新方法。
申请号为“CN201310706534.1”的中国专利提出了一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,对微波黑体定标源电磁学特性和热力学特性联合进行优化设计;申请号为“CN202110490618.0”的中国专利提出了一种新的涂敷方锥型微波辐射计定标源单元设计。可见,现有的微波黑体定标源多以金属锥体作为基体,在微波波段一个黑体的制作往往需要大量的金属锥体作为基体,且每个金属基体需都要进行吸波材料的涂覆,而涂覆厚度往往是毫米级别的,且要求厚度均匀,控制吸波材料涂覆厚度具有较大的难度,制作模具以及进行涂覆都需要花费大量的人力以及财力,且需要全部基体制作成型后方可进行实验,若发射率达不到要求需要重新制作,成本较高。
发明内容
本发明为了解决上述问题,提出了一种具有空腔的高发射率微波黑体源及定标测试方法,该黑体源要求简单可造,同时可以根据不同频段替换不同的吸波角锥,以达到多频段太阳辐射流量定标的效果。
根据一些实施例,本发明采用如下技术方案:
第一个方面,本发明提供了一种具有空腔的高发射率微波黑体源。
一种具有空腔的高发射率微波黑体源,包括:空腔、第一定标盒、第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒,所述第二定标盒的开口、第三定标盒的开口、第四定标盒的开口以及第五定标盒的开口均朝向所述空腔,所述第一定标盒、第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒内均设有若干角锥;
在进行定标测试时,微波黑体源辐射的亮温度信号,到达空腔内设置的天线馈源,所述天线馈源根据不同的亮温信号得到不同的输出值,基于不同的输出值测定定标系数,进行定标。
进一步地,所述第一定标盒开口处设有四个固定板。
进一步地,所述第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒均与所述固定板活动连接。
进一步地,所述第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒与第一定标盒均通过焊接连接。
进一步地,所述第一定标盒为空心的长方体。
进一步地,所述第二定标盒、第三定标盒、第四定标盒以及第五定标盒的形状相同,均为空心的正方体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东大学,未经山东大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111136056.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





