[发明专利]一种高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111125468.X 申请日: 2021-09-26
公开(公告)号: CN115872629A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 刘俊成;董北平;王珮 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: C03C17/25 分类号: C03C17/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 性能 介孔减 反射 纳米 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述薄膜附着在玻璃等透明基底上,主要是由SiO2纳米颗粒组成,纳米颗粒之间相互搭配成孔洞和孔隙,从基底界面到薄膜表面,薄膜孔隙率逐渐增大形成梯度;

所述薄膜附着在光伏玻璃表面时,薄膜可提高玻璃380-1100nm透过率4-6个百分点;

所述高性能,是铅笔硬度(GB/T1727-92)9H以上,附着力可以达到0级(GB/T 1727-1992)以上;

所述制备薄膜的溶胶-凝胶过程中采用了聚乙二醇单甲醚(mPEG)类物质为致孔剂;

所述制备过程主要包括溶胶制备、致孔剂添加、薄膜涂覆、干燥和后处理等;

所述方法的特征还在于,溶胶的陈化时间可以缩短至数分钟。

2.根据权利要求1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述纳米SiO2颗粒的粒径大小约为20nm~300nm,薄膜厚度为80nm~500nm。

3.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述薄膜的孔隙大小大约在20nm左右;孔洞直径大约在500nm左右。

4.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述薄膜孔隙率从基底到顶层逐渐增大,是从底层的孔隙,增大到顶层的大直径孔洞。

5.根据权利要求1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述的溶胶凝胶过程,先将硅酸酯类有机物、无氟烷氧基硅烷、有机大分子致孔剂和去离子水按照一定的摩尔比在酸性环境下水解,经过回流后即可得到溶胶液体。

6.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述有机致孔剂为聚乙二醇单甲醚350、聚乙二醇单甲醚750、聚乙二醇单甲醚1000、聚乙二醇单甲醚1900或者其它聚乙二醇单甲醚类物质的一种或多种。

7.根据权利要求1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述硅酸酯类物质为硅酸四乙酯、硅酸四丁酯的一种或多种;

所述硅氧烷为甲基三乙氧基硅烷、二甲基二乙氧基硅烷、三甲基乙氧基硅烷、正辛基三乙氧基硅烷、乙基三乙氧基硅烷、十八烷基三乙氧基硅烷、己基三乙氧基硅烷、丙基三甲氧基硅烷的一种或多种;

所述所用酸为盐酸、乙酸和硝酸的一种或多种;溶剂为乙醇、甲醇、丙醇的一种或多种。

8.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述致孔剂与溶胶的质量比为1∶20~1∶50,硅酸酯类物质与有机溶剂的体积比是1∶10~1∶20,硅酸脂类有机物与烷氧基硅烷的体积比是1∶0.1~1∶1,硅酸类有机物与水的体积比为1∶0.1~1∶0.5。

9.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述反应温度是25℃~60℃,反应时间为1h~2h,回流温度为50~95℃,回流时间为1h~2h,陈化时间为数分钟到数小时,薄膜热处理温度为100℃~500℃。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学,未经天津工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111125468.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top