[发明专利]一种高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法在审
申请号: | 202111125468.X | 申请日: | 2021-09-26 |
公开(公告)号: | CN115872629A | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 刘俊成;董北平;王珮 | 申请(专利权)人: | 天津工业大学 |
主分类号: | C03C17/25 | 分类号: | C03C17/25 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300387 *** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 性能 介孔减 反射 纳米 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述薄膜附着在玻璃等透明基底上,主要是由SiO2纳米颗粒组成,纳米颗粒之间相互搭配成孔洞和孔隙,从基底界面到薄膜表面,薄膜孔隙率逐渐增大形成梯度;
所述薄膜附着在光伏玻璃表面时,薄膜可提高玻璃380-1100nm透过率4-6个百分点;
所述高性能,是铅笔硬度(GB/T1727-92)9H以上,附着力可以达到0级(GB/T 1727-1992)以上;
所述制备薄膜的溶胶-凝胶过程中采用了聚乙二醇单甲醚(mPEG)类物质为致孔剂;
所述制备过程主要包括溶胶制备、致孔剂添加、薄膜涂覆、干燥和后处理等;
所述方法的特征还在于,溶胶的陈化时间可以缩短至数分钟。
2.根据权利要求1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述纳米SiO2颗粒的粒径大小约为20nm~300nm,薄膜厚度为80nm~500nm。
3.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述薄膜的孔隙大小大约在20nm左右;孔洞直径大约在500nm左右。
4.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述薄膜孔隙率从基底到顶层逐渐增大,是从底层的孔隙,增大到顶层的大直径孔洞。
5.根据权利要求1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述的溶胶凝胶过程,先将硅酸酯类有机物、无氟烷氧基硅烷、有机大分子致孔剂和去离子水按照一定的摩尔比在酸性环境下水解,经过回流后即可得到溶胶液体。
6.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述有机致孔剂为聚乙二醇单甲醚350、聚乙二醇单甲醚750、聚乙二醇单甲醚1000、聚乙二醇单甲醚1900或者其它聚乙二醇单甲醚类物质的一种或多种。
7.根据权利要求1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述硅酸酯类物质为硅酸四乙酯、硅酸四丁酯的一种或多种;
所述硅氧烷为甲基三乙氧基硅烷、二甲基二乙氧基硅烷、三甲基乙氧基硅烷、正辛基三乙氧基硅烷、乙基三乙氧基硅烷、十八烷基三乙氧基硅烷、己基三乙氧基硅烷、丙基三甲氧基硅烷的一种或多种;
所述所用酸为盐酸、乙酸和硝酸的一种或多种;溶剂为乙醇、甲醇、丙醇的一种或多种。
8.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述致孔剂与溶胶的质量比为1∶20~1∶50,硅酸酯类物质与有机溶剂的体积比是1∶10~1∶20,硅酸脂类有机物与烷氧基硅烷的体积比是1∶0.1~1∶1,硅酸类有机物与水的体积比为1∶0.1~1∶0.5。
9.根据权利要求书1所述的高性能介孔减反射纳米薄膜及其制备方法,其特征在于:所述反应温度是25℃~60℃,反应时间为1h~2h,回流温度为50~95℃,回流时间为1h~2h,陈化时间为数分钟到数小时,薄膜热处理温度为100℃~500℃。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学,未经天津工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111125468.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于车辆的驱动力分配方法
- 下一篇:一种食品破碎装置