[发明专利]测试电路和显示面板在审

专利信息
申请号: 202111118904.0 申请日: 2021-09-24
公开(公告)号: CN113834992A 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 王琳琳;黄丽玉;刘瑞 申请(专利权)人: 昆山龙腾光电股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G02F1/1362
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;张靖琳
地址: 215301 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试 电路 显示 面板
【说明书】:

发明涉及显示技术领域,公开了一种测试电路和显示面板,该显示面板包括该测试电路,该测试电路包括测试控制线和多条测试线,以及多个以列排布的开关单元,该开关单元连接多条测试线与数据线,并在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至对应的数据线,以实现所述显示面板的点亮测试,以及在显示阶段,所述多个开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路,并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上。本发明提供的测试电路和显示面板将静电防护和显示面板的点亮测试的功能电路整合为一体,有效降低了静电防护电路对显示面板的边框空间的额外占用,为显示面板的窄边框设计提供了便利。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,具体地,涉及测试电路和显示面板。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)因具有轻、薄、功耗低、亮度高以及画质高等优点,在平板显示领域占据了重要的地位。其中,LCD的液晶显示面板中的阵列基板包括像素单元和数据线,数据线与像素单元连接,通过数据线控制像素单元工作。在显示面板正常工作时,还会存在静电放电(Electro-Static discharge,简称ESD)现象,静电放电是造成大多数电子组件或电子系统收到过度电性应力破坏的主要因素,容易导致半导体器件永久性的损坏,从而导致集成电路功能的失效,对于显示面板,静电放电会造成阵列基板的像素单元的微电子结构的损坏,进而导致显示异常,因此需通过防静电线路对数据线上的电荷进行释放。

现有的静电防护电路包括放电晶体管和开关信号线,放电晶体管的栅极与开关信号线连接,其源极和漏极中的一者与数据线连接,另一者与阵列基板上的公共电极连接通过晶体管连接(通过公共电极线连接公共电极),通过开关信号线控制放电晶体管将数据线上的电荷释放到公共电极上。图1示出了根据现有技术的显示面板的部分结构示意图,参照图1,在现有技术的显示面板100中,其一端设置有开口101,用于放置摄像头,在开口101附近,像素单元111阶梯式排布,对应非显示区的布线121为斜向排布,即设置开口的位置无放置静电防护电路的空间,静电防护电路10需要设置在另一端,而静电防护电路10一般需要占用下边框200至300微米的宽度空间,不利于窄边框的设计。

发明内容

鉴于上述问题,本发明的目的在于提供一种测试电路和显示面板,从而降低静电防护电路对边框的占用,为窄边框的设计提供便利。

根据本发明的一方面,提供一种具有静电防护功能的测试电路,设置在显示面板上,所述测试电路包括:

测试控制线;

多条测试线;

多个以列排布的开关单元,多个所述开关单元的第一端与所述显示面板上的多条数据线一一对应连接,各所述开关单元的控制端与所述测试控制线连接,各所述开关单元的第二端与所述多条测试线连接,

其中,各所述开关单元适于在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至所述多条数据线中对应的数据线,以实现所述显示面板的点亮测试,以及在显示阶段,各所述开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路,并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上。

可选地,还包括:

至少一个静电释放单元,所述至少一个静电释放单元的第一端与所述公共电极线连接,第二端与所述测试线连接,适于在所述显示阶段提供所述多条测试线至所述公共电极线的电通路。

可选地,所述开关单元包括第三晶体管和第四晶体管,所述第三晶体管和所述第四晶体管中的每一个的漏极均连接至另一个的源极,

所述第四晶体管的栅极与对应数据线连接,所述第四晶体管的栅极与漏极连接,

所述第三晶体管的栅极连接至所述测试控制线,且所述第二晶体管的漏极连接至所述多条测试线中对应的测试线。

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