[发明专利]测试电路和显示面板

权利要求书

1.一种具有静电防护功能的测试电路，设置在显示面板上，其特征在于，所述测试电路包括：

测试控制线；

多条测试线；

多个以列排布的开关单元，多个所述开关单元的第一端与所述显示面板上的多条数据线一一对应连接，各所述开关单元的控制端与所述测试控制线连接，各所述开关单元的第二端与所述多条测试线连接，

其中，各所述开关单元适于在测试阶段将所述多条测试线上的测试信号提供至所述多条数据线中对应的数据线，以实现所述显示面板的点亮测试，以及在显示阶段，各所述开关单元导通对应数据线至所述测试线的电通路，并经由所述多条测试线将所述数据线上的静电电荷释放至公共电极线上。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：

至少一个静电释放单元，所述至少一个静电释放单元的第一端与所述公共电极线连接，第二端与所述测试线连接，适于在所述显示阶段提供所述多条测试线至所述公共电极线的电通路。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，

所述开关单元包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管和所述第四晶体管中的每一个的漏极均连接至另一个的源极，

所述第四晶体管的栅极与对应数据线连接，所述第四晶体管的栅极与漏极连接，

所述第三晶体管的栅极连接至所述测试控制线，且所述第二晶体管的漏极连接至所述多条测试线中对应的测试线。

4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，

所述静电释放单元的包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的每一个的源极连接至另一个的漏极，

所述第一晶体管的漏极与栅极连接，所述第一晶体管的栅极连接至所述多条测试线，

所述第二晶体管的漏极与栅极连接，所述第二晶体管的栅极连接至所述公共电极线。

5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：

调控晶体管，所述调控晶体管串联在所述多条测试线至所述测试控制线之间，在所述调控晶体管导通时连通所述多条测试线至所述测试控制线。

6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述调控晶体管的栅极连接至所述多条测试线。

7.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括辅助控制线，所述辅助控制线连接至所述调控晶体管的栅极，

在所述测试阶段，所述辅助控制线提供低电平，以关断所述调控晶体管，以及

在所述显示阶段，所述辅助控制线提供高电平，以导通所述调控晶体管。

8.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在所述测试阶段，所述测试控制线提供高电平，以导通各所述开关单元，以及

在所述显示阶段，所述测试控制线以及所述多条测试线均悬空。

9.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，

所述测试电路设置在数据线尾端、数据线进入侧、IC内部空白位置中的至少一处。

10.一种显示面板，其特征在于，包括：

根据权利要求1至9任一项所述的测试电路。