[发明专利]芯片测试电路、测试方法及测试装置

说明书

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试电路，包括：第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；电压合成模块，用于将第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；配置模块，用于以计算好的第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置第一数模转换器和第二数模转换器。本发明可利用低分辨率数模转换器实现高分辨率。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试电路、测试方法及测试装置。

背景技术

芯片测试机通常需要具备较高精度和分辨率的电压电流测量资源。当测试机内部电路使用DAC（数模转换器）实现电压电流可编程输出时，输出量的分辨率由DAC的数码位宽决定。例如，基于16bit的DAC来实现设计，则分辨率相当于把量程范围分为2¹⁶份，例如量程范围是10V，则分辨率为0.15mV。为了满足测量精度更高的应用场景，通常必须使用更高数码位宽的DAC。但是24bit及以上的DAC往往价格昂贵，供货不稳定。如何用普通规格的DAC（例如16bit）实现更高精度（例如24bit）的分辨率，是长期困扰从业人员的难题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种利用低精度数模转换器实现高精度分辨率、有效降低成本的芯片测试电路。

为了解决上述问题，本发明提供了一种芯片测试电路，用于给被测芯片提供测试电压，其包括：

第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；

第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；

电压合成模块，用于将所述第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；

计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使所述芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；

配置模块，用于以计算好的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置所述第一数模转换器和第二数模转换器。

作为本发明的进一步改进，还包括：

参考电压源，用于提供参考电压；

分压电路，用于对参考电压源的参考电压分压，以生成所述第一参考电压和第二参考电压。

作为本发明的进一步改进，所述分压电路包括：

第一分压模块和第二分压模块，所述第一分压模块和第二分压模块用于对所述参考电压分压，所述第一分压模块的分压点的电压为第一参考电压，所述第二分压模块的分压点的电压为第二参考电压，所述第二分压模块的分压值大于所述第一分压模块的分压值。

作为本发明的进一步改进，所述第一分压模块为第一分压电阻，所述第二分压模块为第二分压电阻，所述参考电压源、第一分压电阻和第二分压电阻依次串联后接地。

作为本发明的进一步改进，R2100R1；其中，R1为第一分压电阻，R2为第二分压电阻。

作为本发明的进一步改进，所述计算模块还用于计算所述芯片测试电路的等效数码值的连续有解区间。

作为本发明的进一步改进，所述电压合成模块为电压加法器，所述电压加法器用于将所述第一输出电压和第二输出电压相加。

作为本发明的进一步改进，所述电压合成模块为电压减法器，所述电压减法器用于将所述第一输出电压和第二输出电压相减。