[发明专利]一种高反光镜面环境的视觉全角度成像装置

说明书

本发明涉及光学成像技术领域，且公开了一种高反光镜面环境的视觉全角度成像装置，包括微距相机阵列，所述微距相机阵列包括有第一相机阵列、第二相机阵列和第三相机阵列，所述微距相机阵列固定安装在图像数据线通道支架的下方，所述微距相机阵列的左右两侧均设置有侧向光源，所述图像数据线通道支架的下方区域设有产品载具。该高反光镜面环境的视觉全角度成像装置，本发明使用微距相机阵列、单一光源成像，相机之间的视野相互覆盖，且相机距离被拍摄材料足够近，任何角度的反射、散射光，虽然可以逃离单一相机的成像范围，但依然会被相邻的相机捕捉到，从而实现高反光材料表面缺陷的全特征呈现。

技术领域

本发明涉及光学成像技术领域，具体为一种高反光镜面环境的视觉全角度成像装置。

背景技术

AI外观视觉检测技术透过高效率，高适应度计算机视觉技术-深度学习，强化学习，算法组件，知识库等，配合光学成像方案。高效率，高适应度计算机视觉技术-深度学习，自搭建自适应，高效加速，灵活拓展的基础架构系统，前端承接多源数据，后端支撑行业应用，对数据进行智能收集，清洗，处理，管理，分析，运维，监控，可视化，从而加速赋能制造业智慧化转型。AI外观视觉检测技术包含两大核心：AI算法、光学成像技术。

目前传统的光学成像方案，在面向高反光镜面材料的缺陷检测时，由于材料本身的光学物理特性，存在多角度反射、散射(光源入射角度与相机视野角度形成的90度夹角范围内的几乎所有角度)现象，相机、光源单一角度架设，由于角度限制，只能捕捉到一部分的缺陷特征图像，所以只能采用多角度架设相机、光源。但由于多光源相互干扰、硬件尺寸、生产空间、硬件成本的限制，传统光学成像方案始终无法捕捉到材料表面所有的反射、散射光，不能完成高反光镜面材料的缺陷全特征呈现。

现有的光学成像方案，在面向高反光镜面材料的缺陷检测时，虽然采用多角度架设相机、光源。但由于多光源相互干扰、硬件本身尺寸、架设空间有限、硬件成本等限制，始终无法捕捉到材料表面所有的反射、散射光，不能完成高反光镜面材料的缺陷全特征呈现，为此我们提出了一种高反光镜面环境的视觉全角度成像装置

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种高反光镜面环境的视觉全角度成像装置，主要针对高反光镜面材料的表面缺陷检测成像，目前此类材料的缺陷检测，在实际应用场景中依然严重依赖人工，需要作业员在强光环境下，不停变换角度，寻找不同反光特征角度的缺陷，解决了现有技术基于对人工检测的模仿，由于实际应用场景的空间、成本限制，无法实现人工检测的光学覆盖角度，造成光逃逸现象，导致一部分缺陷无法成功成像的问题。

(二)技术方案

本发明提供如下技术方案：一种高反光镜面环境的视觉全角度成像装置，包括微距相机阵列，所述微距相机阵列包括有第一相机阵列、第二相机阵列和第三相机阵列，所述微距相机阵列固定安装在图像数据线通道支架的下方，所述微距相机阵列的左右两侧均设置有侧向光源，所述图像数据线通道支架的下方区域设有产品载具，所述产品载具通过平移模组在微距相机阵列的下方前后移动。

进一步的，所述第二相机阵列的拍摄区域为竖直向下，所述第一相机阵列和第三相机阵列的拍摄角区域向中间倾斜，通过该三组相机阵列的设置，阵列的组成数量，依据被检测的材料大小调整，相机之间的视野相互覆盖，且相机距离被拍摄材料足够近，任何角度的反射、散射光，虽然可以逃离单一相机的成像范围，但依然会被相邻的相机捕捉到。

进一步的，所述侧向光源包括有第一侧向光源和第二侧向光源，所述第一侧向光源和第二侧向光源的规格相同，且侧向光源均匀照射拍摄区域，通过侧向光源的设置，提高了拍摄区域的亮度，从而使得该装置的成像效果达到更好。

进一步的，所述微距相机阵列的底部固定设有底部支架，所述底部支架的顶部的两侧均固定设有L形架，所述第一侧向光源和第二侧向光源分别安装在两个L形架上，通过L形架的设置，便于从两侧分别对第一侧向光源和第二侧向光源进行安装固定。