[发明专利]平板式光纤微弯测试装置及方法

权利要求书

1.一种平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，包括：

一弯曲载体，用于摆放受试光纤，所述弯曲载体上表面设有粗糙面；

一施压载体，所述施压载体的底表面设有光滑面，施压载体正上方设有配重砝码；

将受试光纤设于粗糙面和光滑面之间使受试光纤产生微弯，然后通过配重砝码对受试光纤施加压力使其产生附加衰减。

2.根据权利要求1所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述弯曲载体为一固定钢板，固定钢板呈水平设置，受试光纤以正弦曲线的方式均匀分布在固定钢板上表面。

3.根据权利要求2所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述施压载体为一上压钢板，上压钢板与固定钢板平行设置，配重砝码设于上压钢板的正上方中间位置。

4.根据权利要求3所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述配重砝码的规格范围为1-20kg。

5.根据权利要求3所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述固定钢板和上压钢板的形状互相匹配，固定钢板的长度≥350mm，固定钢板的宽度≥350mm，固定钢板的厚度为7-12mm，上压钢板长度大于固定钢板长度10mm，上压钢板的宽度大于固定钢板的宽度10mm。

6.根据权利要求5所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述粗糙面设于固定钢板上表面，所述光滑面设于上压钢板底表面，粗糙面的材料采用砂纸或喷砂，粗糙面的尺寸略小于固定钢板的尺寸，砂纸或喷砂的粗糙度为335-398目。

7.根据权利要求6所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述固定钢板的尺寸大小为600×600×10mm，粗糙面的尺寸为500×500mm，砂纸或喷砂的粗糙度为370目，受试光纤的长度在1km以上。

8.根据权利要求6所述的平板式光纤微弯测试装置，其特征在于，所述砂纸通过粘贴方式进行连接，所述喷砂通过涂覆方式进行连接。

9.一种光纤微弯测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-8任一项所述的平板式光纤微弯测试装置，测试方法包括如下步骤：

S1、在恒温恒湿条件下，温度21-25℃，相对湿度45-55％，将受试光纤以正弦曲线方式均匀摆放在固定钢板的粗糙面表面，必要时使用辅助胶片固定光纤，避免光纤交叉和重叠；

S2、然后将上压钢板压在光纤固定钢板表面，上压钢板和固定钢板闭合，受试光纤置于粗糙面和光滑面之间，然后增加配重砝码，通过调节配重砝码来调节对受试光纤的施加压力，受试光纤的施加压力为≥2N/m；

S3、打开光时域反射仪的电源，选择测量窗口，调节折射率，将尾纤连入光时域测试仪中光波发射器的驱动端，设置脉冲宽度为10ms，根据受试光纤的长度设置测量范围；

S4、将受试光纤的两头用剥线钳将涂覆层剥离，露出纤芯，并用刀具将纤芯切断，通过V型槽将受试光纤与尾纤通过裸纤适配器连接或直接用熔接机熔接，记录受试光纤的初始衰减值a₀；

S5、测试中光时域反射仪使用最小二乘法计算受试光纤衰减，光纤衰减测试中应选择光纤测试曲线中的线性区域，避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域，测试两点间的光纤衰减，然后更改光时域反射计的测试波长，分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析；

S6、当受试光纤长度大于3m时，受试光纤在不同施加压力的作用下得到微弯效应所产生不同的附加衰减值a₁，通过衰减增加值来计算光纤的微弯敏感性。

10.根据权利要求9所述的光纤微弯测试方法，其特征在于，所述微弯敏感性的计算公式为：微弯敏感性=，其中：

a₁为受试光纤在被施压压力后光纤衰减值，dB/km；

a₀为受试光纤初始衰减值，dB/km；

p为配重砝码和上压钢板重量之和产生的施加压力，N。