[发明专利]算法测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种算法测试方法、装置、电子设备及存储介质。其中，所述方法包括：生成第一数据集和第一标注集；在至少一个电子设备中的每个电子设备上配置所述第一算法；所述电子设备包括服务器；获取所述至少一个电子设备中每个电子设备对应的第一信息；基于获取到的第一信息确定是否需要对所述第一算法进行迭代。

技术领域

本申请涉及软件技术领域，尤其涉及一种算法测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

相关技术中，算法测试包括通过对算法输出结果进行的客观指标评测，以及在实际应用上对算法进行的主观评估，其中，客观指标评测并不能完全反应出算法的实际应用的效果，而算法的主观评价是通过评测人员的主观评价对算法进行评估的，导致不能对算法进行全面性或系统性的评价。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种算法测试方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决相关技术出现的缺乏对算法进行全面性或系统性的评价的问题。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

本申请实施例提供了一种算法测试方法，所述方法包括：

生成第一数据集和第一标注集；所述第一标注集表征对所述第一数据集中每个数据关于第一算法的标注结果；

在至少一个电子设备中的每个电子设备上配置所述第一算法；所述电子设备包括服务器；

获取所述至少一个电子设备中每个电子设备对应的第一信息；所述第一信息表征在对应的电子设备上通过所述第一算法处理所述第一数据集时得到的至少一个维度的测试结果；所述至少一个维度的测试结果至少包括第一测试结果；所述第一测试结果基于所述第一标注集和对应的电子设备通过所述第一算法处理所述第一数据集得到的处理结果确定出；

基于获取到的第一信息确定是否需要对所述第一算法进行迭代。

本申请实施例还提供了一种算法测试装置，包括：

生成单元，用于生成第一数据集和第一标注集；所述第一标注集表征对所述第一数据集中每个数据关于第一算法的标注结果；

配置单元，用于在至少一个电子设备中的每个电子设备上配置所述第一算法；所述电子设备包括服务器；

获取单元，用于获取所述至少一个电子设备中每个电子设备对应的第一信息；所述第一信息表征在对应的电子设备上通过所述第一算法处理所述第一数据集时得到的至少一个维度的测试结果；所述至少一个维度的测试结果至少包括第一测试结果；所述第一测试结果基于所述第一标注集和对应的电子设备通过所述第一算法处理所述第一数据集得到的处理结果确定出；

确定单元，用于基于获取到的第一信息确定是否需要对所述第一算法进行迭代。

本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，

其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行上述任一方法的步骤。

本申请实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法的步骤。

在本申请实施例中，将数据集输入到不同电子设备配置的待测算法中，根据待测算法得到的处理结果以及数据集对应的标注集，从不同的维度对待测算法进行评价，能够缩短测评流程，并且能够对待测算法进行全面的评价。

附图说明

图1为本申请实施例提供的算法测试平台示意图；

图2为本申请一实施例提供的算法测试方法的实现流程示意图；

图3为本申请又一实施例提供的算法测试方法的实现流程示意图；