[发明专利]算法测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202111091500.7 | 申请日: | 2021-09-17 |
| 公开(公告)号: | CN113836012A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
| 发明(设计)人: | 涂勇军 | 申请(专利权)人: | 上海瑾盛通信科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 崔晓岚;张颖玲 |
| 地址: | 200030 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 算法 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种算法测试方法,其特征在于,包括:
生成第一数据集和第一标注集;所述第一标注集表征对所述第一数据集中每个数据关于第一算法的标注结果;
在至少一个电子设备中的每个电子设备上配置所述第一算法;所述电子设备包括服务器;
获取所述至少一个电子设备中每个电子设备对应的第一信息;所述第一信息表征在对应的电子设备上通过所述第一算法处理所述第一数据集时得到的至少一个维度的测试结果;所述至少一个维度的测试结果至少包括第一测试结果;所述第一测试结果基于所述第一标注集和对应的电子设备通过所述第一算法处理所述第一数据集得到的处理结果确定出;
基于获取到的第一信息确定是否需要对所述第一算法进行迭代。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在生成第一标注集时,所述方法包括:
基于第二算法对所述第一数据集进行标注,生成所述第一数据集中每个数据对应的第一标注结果;所述第二算法表征基于所述第一算法配置的用于数据标注的算法;
基于所述第一数据集中每个数据对应的第一标注结果,处理得到所述第一标注集。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一数据集中每个数据对应的第一标注结果,处理得到所述第一标注集,包括:
根据第二标注集与第一特征,生成至少一个第二标注结果;所述第二标注集表征所述第一数据集中每个数据对应的第一标注结果组成的集合;所述第一特征表征所述第一算法的应用场景;
基于所述第二标注集与所述至少一个第二标注结果,生成所述第一标注集。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一信息还包括第二测试结果;所述第二测试结果基于对应的电子设备通过第一序列确定;所述第一序列由所述第一算法处理所述第一数据集得到的处理结果与由第三算法处理所述第一数据集得到的处理结果组成;所述第三算法表征与所述第一算法的算法功能相同的算法。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述获取所述至少一个电子设备中每个电子设备对应的第一信息之后,所述方法还包括:
根据第四算法对所述第二测试结果进行检测,生成第一检测结果;所述第四算法用于检测所述第二测试结果是否存在异常;
在所述第一检测结果表征所述第二测试结果存在异常的情况下,向返回所述第二测试结果的电子设备发送第二信息;所述第二信息用于指示电子设备重新生成第二测试结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述第二测试结果与所述第一检测结果,对所述第四算法进行迭代。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在至少一个电子设备中的每个电子设备上配置所述第一算法时,所述方法包括:
获取电子设备对应的性能参数;
在所述电子设备对应的性能参数满足运行所述第一算法所需要的资源的情况下,在所述电子设备上配置所述第一算法。
8.一种算法测试装置,其特征在于,包括:
生成单元,用于生成第一数据集和第一标注集;所述第一标注集表征对所述第一数据集中每个数据关于第一算法的标注结果;
配置单元,用于在至少一个电子设备中的每个电子设备上配置所述第一算法;所述电子设备包括服务器;
获取单元,用于获取所述至少一个电子设备中每个电子设备对应的第一信息;所述第一信息表征在对应的电子设备上通过所述第一算法处理所述第一数据集时得到的至少一个维度的测试结果;所述至少一个维度的测试结果至少包括第一测试结果;所述第一测试结果基于所述第一标注集和对应的电子设备通过所述第一算法处理所述第一数据集得到的处理结果确定出;
确定单元,用于基于获取到的第一信息确定是否需要对所述第一算法进行迭代。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器,
其中,所述处理器用于运行所述计算机程序时,执行权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
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