[发明专利]一种高精度运算放大器测试系统校准方法及装置

说明书

本发明公开了一种高精度运算放大器测试系统校准方法及装置，其利用等效测试模型对运算放大器测试系统校准通用装置进行改进，使改进后的运算放大器测试系统校准复现装置能够复现运算放大器重点参数，实现运算方法大器测试系统的量值溯源，并通过复现结果与测量结果之间的差异，对运算放大器测试系统进行校准，从而能够确保校准过程与其实际测试工作过程保持相一致的工况，使得校准结果更加精准，实现高精度运算放大器测试系统的校准，提高了运算放大器器件重要参数测量的准确度。

技术领域

本发明涉及集成电路测试系统计量技术领域，尤其是涉及一种高精度运算放大器测试系统校准方法及装置。

背景技术

运算放大器是线性集成电路里种类以及数量最多的器件，作为电子电路的核心元器件被广泛应用在武器装备的传感器系统、控制系统和通信系统等部件，高度集成化、低成本以及高可靠性是集成运算放大器的特点。

为了确保武器装备中运算放大器的性能与稳定性，目前国防军工行业装备了相应的测试系统对其进行测试和筛选。对运放的校准主要围绕其主要参数进行，保证运能性能能够满足要求的前提下，剔除冗余参数，提高校准效率。这些主要参数可以作为代表运算放大器性能的特征参数，测试系统的性能直接决定了这些参数的测试结果准确性。因此对于运算放大器测试系统的校准是十分有必要的。

目前国防军工领域在服务运算放大器测试系统应用覆盖面十分广泛，当前用于测试运算放大器的测试系统，均是利用系统本身的运放测试模块完成对器件的测试，由于测试系统生产厂家不同模块的外围辅助电路以及测试原理也不同，这些模块，没有现成的校准规范参考。目前主流的方式是依据其功能参照对应的无线电仪表的校准规范。但测试系统不同于普通的仪表，不可能将这些模块从测试系统中拆出来依据相应的规范分别来校准。一是因为这些板卡本身就属于测试系统的一部分，需要测试系统其它部件与之一起配合才能正常工作；二是因为缺乏考虑测试系统与被校对象之间的连接电缆、接插件、测试适配电路等对测试信号的影响，使校准结果缺乏完整性；三是当前的测试系统需要通过校准板以及线缆将信号转接到台式通用仪表上测量，这种接入方式会影响运放测试辅助电路的性能，会增加引入校准结果误差的可能；四是当前的校准方法是基于测试系统内部模块，并没有针对器件以及测试系统的指标参数进行校准，没有形成具有微电子计量特征的校准方法。因此亟待提供一种运算放大器测试系统校准方法及装置，使之能够提高运算放大器测量准确度以进一步提高武器装备中运算放大器的性能与稳定性的。

发明内容

本发明提出一种高精度运算放大器测试系统校准方法及装置，以克服上述技术不足。

为达到上述技术目的，本发明提供一种高精度运算放大器测试系统校准方法，其包括如下步骤：

依据运算放大器特征参数的测试原理构建特征参数的测试模型；

将运算放大器测试系统校准通用装置与特征参数的测试模型进行结合，得到运算放大器测试系统校准复现装置；

将运算放大器测试系统校准复现装置接入运算放大器测试系统中，根据运算放大器测试系统向运算放大器测试系统校准复现装置的输入信号确定特征参数的复现结果，并根据运算放大器测试系统对运算放大器测试系统校准复现装置的输出信号进行测试得到特征参数的测量结果；

将复现结果与测量结果进行比较，根据比较结果对运算放大器测试系统进行校准。

本发明还提供一种高精度运算放大器测试系统校准系统，其包括主控模块、信号测量模块、标准信号源，所述信号测量模块、标准信号源均与所述主控模块通信连接；其中，

所述主控模块用于根据运算放大器测试系统向运算放大器测试系统校准复现装置输入的信号大小，并基于根据特征参数的测试模型控制标准信号源输出特征参数的复现信号；

所述信号测量模块用于测量所述运算放大器测试系统向运算放大器测试系统校准复现装置输入的信号大小，以及运算放大器测试系统校准复现装置输出的信号大小；