[发明专利]一种高精度运算放大器测试系统校准方法及装置

权利要求书

1.一种高精度运算放大器测试系统校准方法，其特征在于，包括如下步骤：

依据运算放大器特征参数的测试原理构建特征参数的测试模型；

将运算放大器测试系统校准通用装置与特征参数的测试模型进行结合，得到运算放大器测试系统校准复现装置；

将运算放大器测试系统校准复现装置接入运算放大器测试系统中，根据运算放大器测试系统向运算放大器测试系统校准复现装置的输入信号确定特征参数的复现结果，并根据运算放大器测试系统对运算放大器测试系统校准复现装置的输出信号进行测试得到特征参数的测量结果；

将复现结果与测量结果进行比较，根据比较结果对运算放大器测试系统进行校准。

2.根据权利要求1所述高精度运算放大器测试系统校准方法，其特征在于，所述运算放大器的特征参数包括共模抑制比、失调电压、偏置电流、增益带宽。

3.根据权利要求2所述高精度运算放大器测试系统校准方法，其特征在于，将运算放大器测试系统校准通用装置与共模抑制比的测试模型进行结合，得到运算放大器共模抑制比的测试系统校准复现装置，所述运算放大器共模抑制比的测试系统校准复现装置包括主控模块、电压测量模块、标准电压源，所述电压测量模块、标准电压源均与所述主控模块通信连接。

4.根据权利要求3所述高精度运算放大器测试系统校准方法，其特征在于，将运算放大器测试系统校准通用装置与失调电压的测试模型进行结合，得到运算放大器失调电压的测试系统校准复现装置，所述运算放大器失调电压的测试系统校准复现装置与运算放大器共模抑制比的测试系统校准复现装置的结构一致。

5.根据权利要求2所述高精度运算放大器测试系统校准方法，其特征在于，将运算放大器测试系统校准通用装置与偏置电流的测试模型进行结合，得到运算放大器偏置电流的测试系统校准复现装置，所述运算放大器偏置电流的测试系统校准复现装置包括主控模块、电压测量模块、电流测量模块、标准电流源，所述电压测量模块、电流测量模块以及标准电压源均与所述主控模块通信连接；

其中，所述电压测量模块用于测量所述运算放大器测试系统向运算放大器偏置电流的测试系统校准复现装置输入的电压大小，所述电流测量模块用于测量运算放大器偏置电流的测试系统校准复现装置输出的电流大小。

6.根据权利要求2所述高精度运算放大器测试系统校准方法，其特征在于，将运算放大器测试系统校准通用装置与增益带宽的测试模型进行结合，得到运算放大器增益带宽的测试系统校准复现装置，所述运算放大器增益带宽的测试系统校准复现装置包括主控模块、电压测量模块、标准交流电压源，所述电压测量模块、标准交流电压源均与所述主控模块通信连接。

7.一种高精度运算放大器测试系统校准装置，其特征在于，包括主控模块、信号测量模块、标准信号源，所述信号测量模块、标准信号源均与所述主控模块通信连接；其中，

所述主控模块用于根据运算放大器测试系统向运算放大器测试系统校准复现装置输入的信号大小，并基于根据特征参数的测试模型控制标准信号源输出特征参数的复现信号；

所述信号测量模块用于测量所述运算放大器测试系统向运算放大器测试系统校准复现装置输入的信号大小，以及运算放大器测试系统校准复现装置输出的信号大小；

所述标准信号源用于根据主控模块的指令输出相应指标范围内特征参数的复现信号。