[发明专利]一种边缘厚度测量方法、装置、边缘厚度测量设备及介质有效

专利信息
申请号: 202111031927.8 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN113587829B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 潘涛;姚毅;杨艺;戴志强 申请(专利权)人: 凌云光技术股份有限公司;苏州凌云光工业智能技术有限公司;苏州凌云视界智能设备有限责任公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 郭德霞
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 边缘 厚度 测量方法 装置 测量 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种边缘厚度测量方法,其特征在于,包括:

获取安装于扫描平台两侧的第一线阵相机和第二线阵相机坐标系间的刚体变换关系,所述刚体变换关系通过所述第一线阵相机所在的第一坐标系和所述第二线阵相机所在的第二坐标系之间的旋转平移矩阵来表示;

将待测物料放置于所述扫描平台上后启动所述扫描平台移动,通过所述第一线阵相机和所述第二线阵相机分别拍摄所述待测物料,对应得到所述待测物料的第一物料深度图像和第二物料深度图像;

根据所述第一物料深度图像拟合出待测物料边缘所在的初始物料边缘基准平面,并根据所述初始物料边缘基准平面确定物料边缘厚度测量感兴趣区域,所述初始物料边缘基准平面的坐标系为所述第一坐标系;

根据所述旋转平移矩阵将所述初始物料边缘基准平面的坐标系由所述第一坐标系切换为所述第二坐标系,得到目标物料边缘基准平面,所述目标物料边缘基准平面的坐标系为所述第二坐标系;

在所述第二坐标系下,将测量得到的所述第二物料深度图像中对应的物料边缘厚度测量感兴趣区域内三维空间点到所述目标物料边缘基准平面的距离,作为所述待测物料的边缘厚度值。

2.根据权利要求1所述的边缘厚度测量方法,其特征在于,根据所述第一物料深度图像拟合出待测物料边缘所在的初始物料边缘基准平面,包括:

对所述第一物料深度图像进行特征点提取,并通过最小方差估计算法根据提取的所述第一物料深度图像的特征点确定模型参数点;

若所述特征点与所述模型参数点的偏差小于偏差阈值,则认定所述特征点为模型内样本点;

遍历所述第一物料深度图像中所有特征点后,记录所述模型内样本点,并根据所述模型内样本点拟合出待测物料边缘所在的初始物料边缘基准平面。

3.根据权利要求1所述的边缘厚度测量方法,其特征在于,获取安装于扫描平台两侧的第一线阵相机和第二线阵相机坐标系间的刚体变换关系,包括:

将带有多个标定球的标定板放置于所述扫描平台上后启动所述扫描平台移动,通过所述第一线阵相机和所述第二线阵相机分别拍摄所述标定板,对应得到所述标定板的第一标定深度图像和第二标定深度图像;

根据所述第一标定深度图像和所述第二标定深度图像分别确定每个标定球的球心坐标,对应得到第一标定点集合和第二标定点集合;

根据所述第一标定点集合和所述第二标定点集合确定所述第一线阵相机和所述第二线阵相机坐标系间的刚体变换关系。

4.根据权利要求3所述的边缘厚度测量方法,其特征在于,所述第一标定点集合中的元素数目和所述第二标定点集合中的元素数目相同,且一一对应;

在根据所述第一标定点集合和所述第二标定点集合确定所述第一线阵相机和所述第二线阵相机坐标系间的刚体变换关系之前,还包括:

对所述第一标定点集合和所述第二标定点集合中一一对应的元素进行标定;

根据标定后一一对应元素间的点距对所述第一标定点集合和所述第二标定点集合中元素进行筛选。

5.根据权利要求1所述的边缘厚度测量方法,其特征在于,在所述第二坐标系下,将测量得到的所述第二物料深度图像中对应的物料边缘厚度测量感兴趣区域内三维空间点到所述目标物料边缘基准平面的距离,作为所述待测物料的边缘厚度值,包括:

在所述第二坐标系下,测量得到的多个所述第二物料深度图像中对应的物料边缘厚度测量感兴趣区域内三维空间点到所述目标物料边缘基准平面的距离;

将多个距离划分为至少一个数据筛选感兴趣区,并选取各所述数据筛选感兴趣区中数值最大的距离,作为所述待测物料的边缘厚度值。

6.根据权利要求5所述的边缘厚度测量方法,其特征在于,在将多个距离划分为至少一个数据筛选感兴趣区之后,还包括:

选取所述数据筛选感兴趣区中数值大于下限厚度阈值,且小于上限厚度阈值的距离,并根据高尾部值确定所述数据筛选感兴趣中的目标距离。

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