[发明专利]一种快速全量解析STDF文件的方法和设备

说明书

本发明提出了一种快速全量解析STDF文件的方法和设备。所述方法包括：对STDF文件进行分块，根据规则找到每个块的起始解析位置；基于分布式计算引擎，对分割出来的块进行并行解析。本发明中，可以利用多台机器对单个STDF文件进行分布式并行解析，大大降低了STDF文件的解析时间，从而提高了对STDF文件中数据的使用效率。通过快速全量解析STDF中的数据，可以对芯片测试结果进行全方位的分析。

技术领域

本发明属于半导体测试技术领域，具体涉及一种解析STDF文件的方法和设备。

背景技术

STDF（Standard Test Data Format）即标准测试数据文件，是半导体行业芯片测试数据的存储规范，广泛应用于CP（Chip Probe）、FT（Final Test）测试中。其以二进制字节流的形式，采用统一格式保存芯片测试过程中产生的各种类型的数据，解决了不同测试机所生成的测试数据格式不统一的问题。因此，在半导体行业，测试机供应商、芯片测试公司、芯片设计公司都非常重视且愿意接受该规范。

通过全量解析STDF中的数据，可以对芯片测试结果进行全方位的分析，包括Lot、Wafer、Die、测试项等。基于这些数据，一方面，可以从不同维度，以不同的统计图表的形式，快速查找出异常Lot，找到改善点；另一方面，可以实现全方位制程管控的系统，辅助测试机截停异常的Lot和产品，探测制程异常的原因。因此，STDF中的数据非常重要且有价值，而快速全量解析出STDF中的数据对后续的分析和管控起着至关重要的作用。

现有的STDF解析技术大都是以单进程的方式对单个STDF文件进行顺序读取，然后将数据保存成需要的形式。该方式在解析较大的STDF文件时，需要耗费很长时间，且会消耗大量内存导致程序容易崩溃，因此只能选择解析其中一部分数据，无法做到全量解析，严重制约了对STDF数据的分析与应用。

发明内容

发明目的：针对现有技术的不足，本发明提供一种解析STDF文件的方法，对STDF文件实现高效快速的全量解析。

本发明还提供一种快速全量解析STDF文件的设备。

技术方案：为了实现上述发明目的，本发明采用如下技术方案：

第一方面，提供一种快速全量解析STDF文件的方法，包括以下步骤：

根据STDF文件大小，动态生成分块数量，并基于分块数量对STDF文件进行划分；

用文件大小除以分块数量并取整得到一个偏移量，按照该偏移量对分块逐个进行偏移，依次得到每个分块的初始偏移位置；

对各分块的初始偏移位置逐一进行第一次调整，直到确认为一个正确的记录开始位置；

对第一次调整获得的偏移位置进行第二次调整，确保连续有关联的记录在同一个分块中；

根据每个分块的正确的偏移位置，采用分布式计算引擎，对各个分块进行并行解析。

根据第一方面的某些实施方式，对各分块的初始偏移位置逐一进行第一次调整包括：

从初始偏移位置开始，加载65540*3个字节；

从当前位置读取4个字节进行头部解析，判断里面的记录类型是否是有效的类型，如果不是有效的类型，向后移动1个字节，继续从当前位置读取4个字节进行有效类型判断；如果是有效的类型，则判断是否已经有2个连续的完整记录；

如果没有2个连续的完整记录，向后移动1个字节，继续从当前位置读取4个字节进行有效类型判断；如果已经有2个连续的完整记录，输出正确的偏移位置值。

根据第一方面的某些实施方式，对第一次调整获得的偏移位置进行第二次调整包括：

从第一次调整输出的偏移位置开始，每次加载65536*10个字节；