[发明专利]一种基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法

权利要求书

1.一种基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：调整成像亮度计的焦距、位置以及曝光时间，拍摄待测显示屏输出的图片，使所述成像亮度计获取的最大亮度值处于预设亮度范围内；

S2：根据S1拍摄到的图像获得空间采样倍率K；

S3：根据S2计算得到的空间采样倍率K，将S1拍摄到的图像分割成若干个子像素团，每个所述子像素团对应待测显示屏的一个子像素，对至少一个所述子像素团以二维弥散模型进行曲面拟合，得到弥散系数或者其平均值；

其中，所述二维弥散模型为预设的弥散圆亮度的二维分布模型，所述弥散系数为二维弥散模型的参数；

S4：根据S3得到的弥散系数或者其平均值，以二维弥散模型进行模拟得到模拟弥散圆，并且对不同采样位置计算出对应的模拟采样团，所述模拟采样团为所述模拟弥散圆在一个子像素团的各个采样点处的相对亮度值，所述采样位置为所述子像素团的采样点相对于模拟弥散圆中心的位置；

S5：将S4中计算得到的模拟采样团与所述子像素团的实际数据进行匹配，得到拟合度最高的各个子像素团的采样位置，并根据采样位置拟合计算每个子像素团对应的模拟弥散圆中心的拟合亮度值，作为待测显示屏的子像素亮度值。

2.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，所述S3、S4中的二维弥散模型为二维正态分布模型，所述模拟弥散圆在归一化后符合二维正态分布公式（1）：

（1）；

式中f（x,y）即坐标为（x,y）处的归一化的亮度值，σ₁、σ₂分别为横向、纵向的弥散系数，ρ为关联性参数，μ1、μ2为中心位置参数；

设拍摄系统是各向同性的，则记σ₁₌σ₂ = σ，ρ=0；

模拟弥散圆中心是原点时，μ1 = μ2 = 0，公式（1）简化为公式（2）：

（2）。

3.根据权利要求2所述的基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，S4中，所述采样位置的获取方法如下：

根据空间采样倍率K，在0到1/K的范围内，取若干个采样相位值形成集合{Φ}，对横向采样相位和纵向采样相位分别取集合{Φ}中的一个值形成相位组合（Φ_x，Φ_y），作为采样位置，所述相位组合（Φ_x，Φ_y）表示的是所述子像素团中在模拟弥散圆中心右下方最接近模拟弥散圆中心的采样点在公式（2）中的坐标位置（x，y）。

4.根据权利要求3所述的基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，所述取若干个采样相位值形成集合{Φ}，具体为：

取0，1/(nK)，2/(nK)，……，(n-1)/(nk)形成集合{Φ}，其中n为正整数。

5.根据权利要求1所述的基于成像亮度计的OLED屏幕子像素亮度提取方法，其特征在于，S5中，所述将S4中计算得到的模拟采样团与所述子像素团的实际数据进行匹配，得到拟合度最高的各个子像素团的采样位置，具体为：

将S4中计算得到的模拟采样团与一个第一子像素团的实际数据进行匹配，得到所述第一子像素团拟合度最高的采样位置，将子像素团的空间位置周期性分布规律，与采样点的空间位置周期性分布规律进行比较，得到递推公式，通过递推得到其他子像素团的拟合度最高的采样位置。