[发明专利]一种薄膜电晕处理表面的检测方法及系统

权利要求书

1.一种薄膜电晕处理表面的检测方法，至少包括如下步骤：首先向薄膜(100)的电晕处理表面释放粉末，然后根据附着在薄膜(100)的电晕处理表面上的粉末分布图像，判断薄膜(100)的电晕处理表面的均匀性。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述粉末选自粒径0.1-200微米的碳酸钙、碳酸镁、硫酸镁、二氧化硅、碳酸钠、碳酸氢钠、硫酸铝、硫酸铝钾等之一或其混合物。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述薄膜(100)斜向上方输送，粉末在所述薄膜(100)的前进方向的上游释放到薄膜(100)上。

4.一种薄膜电晕处理表面的检测系统，至少包括一个向薄膜(100)的电晕处理表面释放粉末的粉末释放装置(200)以及设置在粉末释放装置(200)的下方的下料筐(300)。

5.如权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述薄膜(100)斜向上方输送，粉末释放装置(200)设置在所述薄膜(100)的前进方向的上游；在所述薄膜(100)的前进方向的下游设置有检测设备(500)。

6.如权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述粉末释放装置(200)包括上壳体(201)、下壳体(202)以及设置在上壳体(201)和下壳体(202)的内部的转动叶轮(203)。

7.如权利要求6所述的检测系统，其特征在于，所述上壳体(201)的顶部设置有进料口(2011)；所述下壳体(202)的底部设置有对准下方的下料筐(300)的出料口(2021)；所述上壳体(201)和下壳体(202)的扣合面形成有对准所述薄膜(100)的粉末释放狭缝(2012)。

8.如权利要求7所述的检测系统，其特征在于，所述粉末释放狭缝(2012)的内部设置有一个弹性调节板(2023)，所述弹性调节板(2023)的一侧固定连接在粉末释放狭缝(2012)的内部，另一侧通过调节螺栓(2024)抵顶在其侧面调整其张开的角度。

9.如权利要求7所述的检测系统，其特征在于，所述下壳体(202)的内部设置有一根位于所述出料口(2021)的上端的落料辊(2025)，所述落料辊(2025)的垂直投影面大于或等于所述出料口(2021)的横截面。

10.如权利要求9所述的检测系统，其特征在于，所述落料辊(2025)可以在垂直方向上下移动。