[发明专利]电平移位设备和方法在审
申请号: | 202111003461.0 | 申请日: | 2021-08-30 |
公开(公告)号: | CN114124076A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | D·科坦;F·罗曼 | 申请(专利权)人: | 意法半导体(格勒诺布尔2)公司 |
主分类号: | H03K19/0175 | 分类号: | H03K19/0175;G09G3/3208 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 董莘 |
地址: | 法国格*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电平 移位 设备 方法 | ||
1.一种被配置为根据两个第二电平之中的输入电平来递送两个第一电平之中的输出电位电平的电路,包括:
第一晶体管和第二晶体管,被连接在第一节点处,所述第一节点被配置为递送所述输出电位电平,其中所述第一晶体管和所述第二晶体管在施加所述两个第一电平的第二节点之间电串联;
第一电压生成器,由所述第二节点中的一个第二节点供电、并且被配置为递送第一DC电压,所述第一DC电压限定由第一晶体管控制电路施加到所述第一晶体管的控制端子的控制电压的上限;以及
第二电压生成器,在所述第二节点之间被供电,所述第二电压生成器由表示所述第一DC电压的值控制、并且被配置为递送第二DC电压,所述第二DC电压限定由第二晶体管控制电路施加到所述第二晶体管的控制端子的控制电压的上限。
2.根据权利要求1所述的电路,其中:
第一信号被输入到所述第二晶体管控制电路、并且表示所述第二晶体管的期望状态,所述第一信号以所述第二节点中的所述一个第二节点的所述电位为参考;以及
所述第一信号从第二信号生成,所述第二信号被输入到所述第一晶体管控制电路、并且表示所述第一晶体管的期望状态,所述第二信号以所述两个第二电平的参考电位为参考。
3.根据权利要求1所述的电路,其中:
所述第一电压生成器包括第三晶体管,所述第三晶体管被配置为传导用于为所述第一生成器供电的第一电流;以及
所述第二电压生成器包括第四晶体管,所述第四晶体管与所述第三晶体管形成电流镜,并且所述第四晶体管被配置为传导用于为所述第二生成器供电的第二电流。
4.根据权利要求3所述的电路,其中:
所述第一电压生成器包括第一元件,所述第一元件在所述第二节点中的所述一个第二节点与第三节点之间与所述第三晶体管电串联,所述第三节点递送所述第一DC电压,所述第一元件响应于所述第一电流的通过而具有预定电压降;以及
所述第二电压生成器包括第二元件,所述第二元件将第四节点耦合到所述第二节点中的另一个第二节点,所述第二元件响应于所述第二电流的通过而具有预定电压降。
5.根据权利要求4所述的电路,其中所述第一元件是二极管,并且所述第二元件是电串联的第五晶体管和二极管。
6.根据权利要求1所述的电路,其中所述第一晶体管控制电路包括:
第一附加晶体管、第二附加晶体管和第三附加晶体管,在所述第二节点中的一个第二节点与施加所述两个第二电平中的一个第二电平的附加节点之间按顺序电串联,所述第二附加晶体管具有的其控制端耦合到与所述第一DC电压相关联的节点;以及
连接节点,处于所述第一附加晶体管与所述第二附加晶体管之间,所述节点被耦合以提供被施加到所述第一晶体管的控制端子的所述控制电压。
7.根据权利要求6所述的电路,其中所述第二晶体管控制电路包括:
第四附加晶体管、第五附加晶体管和第六附加晶体管,在所述第二节点中的一个第二节点与所述第二节点中的另一个第二节点之间按顺序电串联,所述第五附加晶体管具有的其控制端耦合到与所述第二DC电压相关联的节点;以及
连接节点,处于所述第五附加晶体管与所述第六附加晶体管之间,所述节点被耦合以提供被施加到所述第二晶体管的控制端子的所述控制电压。
8.根据权利要求7所述的电路,其中:
第一信号被输入到所述第二晶体管控制电路、并且表示所述第二晶体管的期望状态,所述第一信号以所述第二节点中的所述一个第二节点的所述电位为参考,并且所述第一信号被施加到所述第四附加晶体管的控制端;以及
所述第一信号从第二信号生成,所述第二信号被输入到所述第一晶体管控制电路、并且表示所述第一晶体管的期望状态,所述第二信号以所述两个第二电平的参考电位为参考,并且所述第二信号被施加到所述第三附加晶体管的控制端。
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