[发明专利]罗氏线圈检测机构及具有该机构的检测装置及检测方法

说明书

本发明提供一种罗氏线圈检测机构，包括罗氏线圈、固定装置；罗氏线圈包括基体；基体包括圆柱体部位和圆环部位；固定装置包括第一排柱、第二排柱；罗氏线圈设置于第一排柱和第二排柱之间；第二排柱上靠近罗氏线圈的一侧固定有一个凸台；凸台穿过罗氏线圈上的圆环部位与第一排柱相互接触；第一排柱、第二排柱的底壁均横排开设有多个相互对应的第二开孔。本发明在罗氏线圈检测机构中设置有罗氏线圈、固定装置，使得该装置不仅操作方便、便于拿取，而且可以满足空间狭小的测试工装的正常使用。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，具体为一种罗氏线圈检测机构及具有该机构的检测装置及检测方法。

背景技术

工业的快速发展使许多行业都得到了相应的发展，电子信息行业就是其中最为重要的一个，人们对电子产品的研究不断深入，其性能得到了进一步提高；在研究与分析电子产品过程中，为了确保电子产品在应用过程中的作用能够得到充分发挥，对其测试提出了更高的要求；在测试电子产品过程中，要采用合理的装夹方式，以及器件的测试前后工序的合理运转方式，从而达到高效的模式。

目前安装测试工装中用来检测电流的罗式线圈时，需要在测试工装中电路板基板上的导电覆铜体两侧开孔，然后将罗式线圈穿过两侧开孔再扣合；而测试工装的操作空间狭小，罗式线圈扣合经常需要两手操作，操作效率低，且不便于将罗式线圈固定到电路板基板上；此外，罗式线圈的价格昂贵，而测试工装需要勤换，导致罗氏线圈需要不断插拔，这种长时间的插拔容易使公头外壁和母头的内壁产生磨损，从而影响罗氏线圈的连接稳定性，插拔公头和母头时，需要手动施加外力将公头拔出或者推入，插拔的操作会对罗氏线圈进行拉扯，从而容易造成罗氏线圈的损坏，大大影响罗氏线圈的使用寿命进而提高检测成本。

根据上述缺点，一些企业对其进行了相关改进，如公告号为CN211979021U的对比文件，其公开了一种罗氏线圈的固定装置，包括罗氏线圈、公头、母头和安装座，安装座固定在互感器壳体内部，罗氏线圈的一端固定设置，另一端通过公头和母头可拆卸的连接在安装座上，罗氏线圈呈圆环状，公头固定连接在罗氏线圈的端部，母头包括连接部和卡帽，公头和连接部均为圆柱型，卡帽呈倒置的桶状，卡帽卡接在连接部外壁，连接部固定设置在母头的上端面、并高出母头上端面一定距离，连接部上端面开设有沉孔，卡帽上端面开设有通孔，沉孔与通孔的直径均大于公头的外径；采用该固定装置进行罗氏线圈的固定，尽管可以在一定程度上解决不断插拔对罗氏线圈的损害，但是存在结构复杂、操作不便等问题，此外该装置不仅无法便捷更换，而且仍需要在电路板基板上的导电覆铜体两侧开孔，再使罗式线圈穿过两侧开孔进行扣合，而测试工装的操作空间狭小，因此该装置并不适合在测试工装中使用。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于现有技术中罗氏线圈检测机构存在结构复杂、操作不便、无法便捷更换、不适合空间狭小的测试工装的问题。

本发明通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：

一种罗氏线圈检测机构，包括罗氏线圈(12)、固定装置(14)；所述罗氏线圈(12)包括基体(122)；所述基体(122)包括圆柱体部位和圆环部位；所述固定装置(14)包括第一排柱(145)、第二排柱(147)；所述罗氏线圈(12)设置于第一排柱(145)和第二排柱(147)之间；所述第二排柱(147)上靠近罗氏线圈(12)的一侧固定有一个凸台(1472)；所述凸台(1472)穿过罗氏线圈(12)上的圆环部位与第一排柱(145)相互接触；所述第一排柱(145)、第二排柱(147)的底壁均横排开设有多个相互对应的第二开孔(1452)。

使用时，将第二排柱上的凸台穿过罗氏线圈上的圆环部位与第一排柱相互接触；该罗氏线圈检测机构在使用之前即安装固定好，且在使用过程中不做任何拆卸，使用过程中可通过排柱底端的第二开孔进行插拔于线路板或者主电路中，来实现快速插拔更换，具有操作方便、便于拿取、适合空间狭小的测试工装等优点。

进一步的，所述第一排柱(145)和第二排柱(147)的材料均为铜。