[发明专利]通止检测工具及通止检测方法

权利要求书

1.一种通止检测工具，其特征在于，包括：

基体，所述基体包括相对间隔设置的安装部及第一检测部，所述安装部设有安装通孔；

调节组件，所述调节组件穿设于所述安装通孔，且所述调节组件能够沿所述安装通孔的轴向朝向靠近或远离所述第一检测部方向往复移动；

第二检测部，所述第二检测部与所述调节组件靠近所述第一检测部的一端连接，所述第二检测部与所述第一检测部相对间隔设置形成第一检测间隙；及

间距校核元件，所述间距校核元件用于对所述第一检测间隙进行校核。

2.根据权利要求1所述的通止检测工具，其特征在于，所述安装部包括安装块，所述安装块设有所述安装通孔及与所述安装通孔连通的限位孔，所述安装通孔的内侧壁设有内螺纹，所述调节组件包括调节螺母、限位件及外侧壁设有限位槽的调节螺杆，所述调节螺杆与所述内螺纹螺纹配合，所述调节螺母套设于所述调节螺杆的外侧壁并与所述调节螺杆螺纹配合，所述限位件插设于所述限位孔，且所述限位件的一端与所述限位槽限位配合。

3.根据权利要求2所述的通止检测工具，其特征在于，所述安装块设有与所述安装通孔对应连通的安装槽，所述调节螺母套设于所述调节螺杆的外侧壁并设置于所述安装槽内。

4.根据权利要求1至3任一项所述的通止检测工具，其特征在于，所述第二检测部包括连接件及第一检测头，所述连接件用于连接所述调节组件与所述第一检测头，所述第一检测部包括相互连接的底座及第二检测头，所述底座与所述连接件相对间隔设置形成所述第一检测间隙，所述第一检测头和所述第二检测头均凸出所述第一检测间隙，且所述第一检测头与所述第二检测头相对间隔设置形成第二检测间隙，所述间距校核元件用于对所述第二检测间隙进行校核。

5.根据权利要求4所述的通止检测工具，其特征在于，所述第一检测头及所述第二检测头均设有用于检测内径的检测弧面；和/或所述第一检测头及所述第二检测头均设有用于检测外径的检测平面。

6.根据权利要求4所述的通止检测工具，其特征在于，所述第一检测头远离所述连接件的一端及所述第二检测头远离所述底座的一端均设有导向部。

7.根据权利要求4所述的通止检测工具，其特征在于，所述连接件设有间隔设置的第一连接孔及第一定位槽，所述第一检测头设有与所述第一连接孔对应连通的第二连接孔、及与所述第一定位槽定位配合的第一定位凸起，所述第二检测部包括用于与所述第一连接孔及所述第二连接孔紧固配合的第一紧固件；和/或所述底座设有间隔设置的第三连接孔及第二定位槽，所述第二检测头设有与所述第三连接孔对应连通的第四连接孔、及与所述第二定位槽定位配合的第二定位凸起，所述第一检测部包括用于与所述第三连接孔及所述第四连接孔紧固配合的第二紧固件。

8.根据权利要求4所述的通止检测工具，其特征在于，所述第一检测头包括相互垂直并连接的第一竖直段及第一水平段，所述第一竖直段远离所述第一水平段的一侧与所述连接件贴合并连接；所述第二检测头包括相互垂直并连接的第二竖直段及第二水平段，所述第二竖直段远离所述第二水平段的一侧与所述底座贴合并连接，且所述第一水平段与所述第二水平段相对间隔并平行设置形成所述第二检测间隙。

9.根据权利要求4所述的通止检测工具，其特征在于，所述调节组件靠近所述第一检测部的一端设有螺纹孔，所述连接件包括相对间隔设置的第一表面和第二表面，所述第一表面设有用于与所述调节组件靠近所述第一检测部的一端插接配合的第一沉孔，所述第二表面设有第二沉孔，所述连接件还设有用于连通所述第一沉孔与所述第二沉孔的连通孔，且所述连通孔与所述螺纹孔对应连通，所述通止检测工具还包括螺纹件，所述螺纹件与所述螺纹孔螺纹配合以锁紧所述连接件与所述调节组件。

10.一种通止检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

调节调节组件以使第一检测部和第二检测部形成预设间距的第一检测间隙；

利用间距校核元件对所述第一检测间隙进行校核；

若所述第一检测间隙的校核满足预设间距要求，则对待检测元件进行通止检测。