[发明专利]一种可实现反射率定向调控的反PT对称光子多层在审
申请号: | 202110985792.2 | 申请日: | 2021-08-26 |
公开(公告)号: | CN113534300A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 刘芳华;张巍 | 申请(专利权)人: | 湖北科技学院 |
主分类号: | G02B1/00 | 分类号: | G02B1/00;G02F1/01 |
代理公司: | 咸宁鸿信专利代理事务所(普通合伙) 42249 | 代理人: | 刘喜 |
地址: | 437100 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 反射率 定向 调控 pt 对称 光子 多层 | ||
本发明提供了一种可实现反射率定向调控的反PT对称光子多层,属于光学技术领域。所述反PT对称光子多层包括两个对称分布的Thue‑Morse序列,其中一个所述Thue‑Morse序列SN的迭代规则为:当N=1时,S2=A,当N≥2时SN=SN‑1(SN‑1中的A由AB代替,SN‑1中的B由BA代替);另一个所述Thue‑Morse序列SN'的迭代规则为:当N=1时,S2'=A',当N≥2时SN'=SN‑1'(SN‑1'中的A'由A'B'代替,SN‑1'中的B'由B'A'代替)。本发明可实现反射率的定向调控。
技术领域
本发明属于光学技术领域,涉及一种可实现反射率定向调控的反PT对称光子多层。
背景技术
当材料中存在增益或损耗时,其电介质的折射率为复数,光波从正、反向入射时得到的反射谱不重合。宇称-时间(parity-time,PT)对称结构中正、反向入射的光波有相同的透射特性,但其反射谱不重合,即反射性是非互易的。这种非互易性为光波反射率的定向调控提供了条件。例如,利用PT对称结构正、反向反射率为0所对应的入射光频率不同的特点,可将其用于对特定波长的光学定向隐身。
PT对称的光学系统,其折射率空间上满足条件n(z)=n*(-z),其中z为位置坐标。PT对称条件可以分解为:nr(z)=nr(-z)和ni(z)=-ni(-z),即折射率的实部nr偶对称,ni虚部奇对称,字母i表示虚数单位。在研究反射光束的横向位移时,需要用到部分反射率反射光,并且在共振态附近,光束的横向位移效应最大,而PT对称系统的共振模反射率为零,这对探测反射光束的横向位移十分不利。另外,在探索光束横向位移的空间非互易性中,器件对正、反向入射光的反射率不同也是空间非互易性的重要研究内容。
发明内容
本发明的目的是针对现有的技术存在的上述问题,提供一种可实现反射率定向调控的反PT对称光子多层,本发明所要解决的技术问题是如何实现反射率的定向调控。
本发明的目的可通过下列技术方案来实现:一种可实现反射率定向调控的反PT对称光子多层,其特征在于,所述反PT对称光子多层包括两个对称分布的Thue-Morse序列,其中一个所述Thue-Morse序列SN的迭代规则为:S1=A,N=1;S2=AB,N=2;SN=SN-1(A→AB,B→BA),N≥3,其中SN-1中的A→AB表示A由AB代替,B→BA表示B由BA代替,形成新的序列SN。;
另一个所述Thue-Morse序列SN'的迭代规则和SN相同,SN'与SN中的电介质关于原点反PT对称;
A为第一电介质层;B为第二电介质层;A'为第三电介质层;B'为第四电介质层;其中下标N为序列的序数,;
第一电介质层的折射率表示为na;第三电介质层的折射率表示为na';第二电介质层的折射率表示为nb;第四电介质层的折射率表示为nb';
na=nA+0.01qi,na'=nA'+0.01qi,nb=nB+0.01qi,nb'=nB'+0.01qi,
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