[发明专利]一种集成电路自动化逻辑综合系统、方法、装置及介质在审
申请号: | 202110963117.X | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113705136A | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 李拓;王长红;刘凯;满宏涛 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/327 | 分类号: | G06F30/327;G06F30/337 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王洋 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 自动化 逻辑 综合 系统 方法 装置 介质 | ||
1.一种集成电路自动化逻辑综合系统,其特征在于,包括:
环境配置模块,用于获取综合参数;
综合优化模块,用于根据所述综合参数对待综合RTL代码文件进行逻辑综合,得到初步综合结果;
报告生成模块,用于根据所述初步综合结果生成初步综合报告;
报告自动分析模块,用于对所述初步综合报告进行分析,确定出优化控制参数;
迭代优化命令自动生成模块,用于根据所述优化控制参数对所述初步综合结果中的路径进行优化,得到优化后综合结果,并调用所述报告生成模块和所述报告自动分析模块根据所述优化后综合结果更新所述优化控制参数,根据更新后优化控制参数对所述优化后综合结果进行迭代优化,直到符合预设输出条件,得到目标综合结果;
结果输出模块,用于输出所述目标综合结果。
2.根据权利要求1所述的集成电路自动化逻辑综合系统,其特征在于,所述环境配置模块,包括:
路径信息获取子模块,用于获取所述待综合RTL代码文件的路径、综合约束文件的路径及库文件的路径;
第一综合变量设置子模块,用于获取优化参数阈值,其中,所述优化参数阈值包括预设最长迭代时间、预设建立时间时序最大违例阈值、违例值比值门限、LVT标准单元最大利用率、LVT标准单元每次迭代最大增量、ULVT标准单元最大利用率、ULVT标准单元每次迭代最大增量;
第二综合变量设置子模块,用于获取除了所述优化参数阈值外的综合参数。
3.根据权利要求2所述的集成电路自动化逻辑综合系统,其特征在于,所述综合优化模块,包括:
设计读入子模块,用于根据所述待综合RTL代码文件的路径、所述综合约束文件的路径及所述库文件的路径读入所述待综合RTL代码文件、所述综合约束文件及所述库文件;
路径组设置子模块,用于获取预设路径组数;
综合执行子模块,用于根据所述综合参数、所述综合约束文件、所述库文件对所述待综合RTL代码文件进行逻辑综合,得到所述初步综合结果,其中,所述初步综合结果中包括所述预设路径组数个路径组。
4.根据权利要求3所述的集成电路自动化逻辑综合系统,其特征在于,所述报告生成模块,用于:
利用所述初步综合结果中各个路径组中各条路径的建立时间时序违例值、LVT标准单元当前利用率、ULVT标准单元当前利用率、综合已耗时间生成所述初步综合报告。
5.根据权利要求4所述的集成电路自动化逻辑综合系统,其特征在于,所述报告自动分析模块,包括:
报告信息分析子模块,用于根据各条所述路径的建立时间时序违例值确定出建立时间时序违例最大值、各个所述路径组的建立时间时序违例平均值;
分析结果输出子模块,用于根据各条所述路径的违例值比值和所述违例值比值门限确定各条所述路径的优化控制变量tag,并将所述优化控制变量tag、所述建立时间时序违例最大值、所述LVT标准单元当前利用率、所述ULVT标准单元当前利用率、所述综合已耗时间作为优化控制参数输出;
其中,任意一条路径的违例值比值为该路径的建立时间时序违例值与该路径所属路径组的建立时间时序违例平均值的比值,优化控制变量tag为1,表示对应路径的违例值比值大于所述违例值比值门限,优化控制变量tag为0,表示对应路径的违例值比值不大于所述违例值比值门限。
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