[发明专利]用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统及测试方法

权利要求书

1.用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，包括至少一个待测试瓷绝缘子，其特征在于，包括外观检测模块、外观记录模块、硬度记录模块及质量测试模块，其中，外观检测模块、外观记录模块、硬度记录模块均与质量测试模块通信连接，其中，质量测试模块对待测试瓷绝缘子进行测试后，外观检测模块、外观记录模块和硬度记录模块对待测试瓷绝缘子进行辅助测试。

2.根据权利要求1所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，质量测试模块包括：

搭建测试平台，其中，测试平台包括机身，机身围合形成测试内腔，测试内腔分层设置有多个测试盘，内腔的底部设置有加热器和蒸发托盘，加热器用于加热蒸发托盘内预先填充的测试液；

将待测试瓷绝缘子按照测试要求放置在不同高度的测试盘上；

封闭机身，接通加热器电源，在预设时间内完成质量测试。

3.根据权利要求2所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，测试盘的底部设置有预先设定数量的通孔，通孔有预先设定的直径。

4.根据权利要求2所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，测试液和预设时间与测试要求一一对应，其中，测试要求包括初级测试要求、中级测试要求和高级测试要求；

初级测试要求对应测试液为10％至25％硫酸溶液，预设时间为50分钟；中级测试要求对应测试液为26％至40％硫酸溶液，预设时间为80分钟；高级测试要求对应测试液为41％至60％硫酸溶液，预设时间为120分钟。

5.根据权利要求1所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，外观检测模块包括超声波探伤仪，其中，超声波探伤仪的超声波探头对待测试瓷绝缘子发送超声波，超声波经瓷绝缘子反射获得反射波脉冲波形，并对若干个反射波脉冲波形进行对比，获得待测试瓷绝缘子内部的裂纹位置、裂纹深度以及裂纹长度。

6.根据权利要求1所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，外观记录模块包括测试纸，采用多点取样法确定每次测量表面形貌数据时，并记录在测试纸上，在体视显微镜下观察待测试瓷绝缘子的表面形貌视为同一观测点；

每次测量表面形貌数据时，确定各观测点是否有气泡、褪色、白色斑点、表面粗糙度增加以及裂纹，并逐条目记录观测结果，获得待测试瓷绝缘子的表面形貌数据。

7.根据权利要求1所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，硬度记录模块包括：

在厚度大于预先设定值和待测试瓷绝缘子的边缘预先设定值的区域选择若干处作为观测点；

逐一记录各观测点的硬度，形成样品硬度变化曲线，作为待测试瓷绝缘子的硬度数据。

8.根据权利要求1所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试系统，其特征在于，本系统还包括可视化模块，可视化模块用于收集待测试瓷绝缘子内部的裂纹位置、裂纹深度、裂纹长度、表面形貌数据及硬度数据生成可视化报表，其中，可视化报表包括气泡图、思维导图、雷达图、矩阵图中的一种或多种。

9.用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一：确定测试计划；

步骤二：将待测试瓷绝缘子放入测试平台内；

步骤三：按照测试计划设置测试平台内测试液浓度和预设时间；

步骤四：记录按照测试计划测试后待测试瓷绝缘子内部的裂纹位置、裂纹深度、裂纹长度、表面形貌数据及硬度数据；

步骤五：基于步骤四记录的数据生成可视化报表。

10.根据权利要求9所述的用于特高压瓷绝缘子质量评估的测试方法，其特征在于，测试计划包括：

初级测试要求对应测试液为10％至25％硫酸溶液，预设时间为50分钟；中级测试要求对应测试液为26％至40％硫酸溶液，预设时间为80分钟；高级测试要求对应测试液为41％至60％硫酸溶液，预设时间为120分钟。