[发明专利]一种FPGA远程升级方法、系统和存储介质在审
申请号: | 202110956606.2 | 申请日: | 2021-08-19 |
公开(公告)号: | CN113835735A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 张航;彭祥吉 | 申请(专利权)人: | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
主分类号: | G06F8/654 | 分类号: | G06F8/654;G06F11/10 |
代理公司: | 深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374 | 代理人: | 周雷 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 fpga 远程 升级 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种FPGA远程升级方法,其特征在于,包括以下步骤:
在非易失性存储器中写入数据流文件,所述数据流文件按照存储地址顺序依次包括各应用位流的配置程序、黄金位流和各应用位流,每个所述应用位流的配置程序顺序包括开关程序和跳转程序,所述开关程序用于启动对应的所述跳转程序,所述跳转程序用于跳转并载入指定位置的应用位流;
接收并缓存上位机发送的升级版本的应用位流,擦除所述非易失性存储器中存储的对应原版本的应用位流,对缓存的所述升级版本的应用位流进行接收校验;
若接收校验通过,将缓存的所述升级版本的应用位流写入所述非易失性存储器的对应存储区域;
回读所述非易失性存储器中存储的所述升级版本的应用位流,对回读的所述升级版本的应用位流进行写入校验;
若写入校验通过,则在接收到所述升级版本的应用位流的加载指令时,关闭当前运行的所述开关程序,启动所述升级版本的应用位流的开关程序以加载所述升级版本的应用位流;
若加载所述升级版本的应用位流失败,则关闭对应的所述开关程序以加载所述黄金位流。
2.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:所述非易失性存储器包括FLASH芯片,所述FLASH芯片至少包括SPI FLASH和BPI FLASH中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:所述在非易失性存储器中写入数据流文件,包括:获取所述非易失性存储器的第一存储空间的初始存储地址;从所述第一存储空间的初始存储地址开始存储所述配置程序中的程序数据,每存储一个所述程序数据,在存储所述程序数据对应的存储地址上加1,其中,所述第一存储空间的比特数大于或等于所述配置程序的比特数;将存储地址加预设数目,得到第二存储空间的起始存储地址,从所述第二存储空间的起始存储地址开始存储所述黄金位流中的位流数据,其中,所述预设数目为大于或等于零的整数,所述第二存储空间的比特数大于或等于所述黄金位流的比特数;将存储地址加预设数目,得到第三存储空间的起始存储地址,从所述第三存储空间的起始存储地址开始存储第一个应用位流中的位流数据,其中,所述预设数目为大于或等于零的整数,所述第三存储空间的比特数大于或等于所述第一个应用位流的比特数;重复上述步骤,直至所有应用位流存储完毕;将各所述应用位流的起始存储地址分别写入所述第一存储区域中对应各跳转程序。
4.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:所述对缓存的所述升级版本的应用位流进行接收校验,包括:利用CRC校验算法分别获取所述上位机中升级版本的应用位流的第一CRC校验码以及缓存的升级版本的应用位流的第二CRC校验码,判断所述第一CRC校验码和所述第二CRC校验码是否一致;若一致,则确定接收校验通过;若不一致,则确定接收校验失败。
5.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:所述对回读的所述升级版本的应用位流进行写入校验,包括:利用CRC校验算法分别获取所述上位机中升级版本的应用位流的第一CRC校验码、所述缓存的升级版本的应用位流的第二CRC校验码以及回读的升级版本的应用位流的第三CRC校验码,判断所述第一CRC校验码、所述第二CRC校验码和所述第三CRC校验码是否一致;若一致,则确定回读校验通过;若不一致,则确定回读校验失败。
6.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:还包括:若接收校验失败,则重新接收并缓存上位机发送的升级版本的应用位流,对重新缓存的所述升级版本的应用位流进行接收校验。
7.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:还包括:若回读校验失败,则重新将缓存的所述升级版本的应用位流写入所述非易失性存储器的对应存储区域,对重新写入的所述升级版本的应用位流进行写入校验。
8.根据权利要求1所述的FPGA远程升级方法,其特征在于:还包括:若接收校验失败,关闭当前运行的所述开关程序以加载黄金位流;若回读校验失败,关闭当前运行的所述开关程序以加载黄金位流。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市紫光同创电子有限公司,未经深圳市紫光同创电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110956606.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。