[发明专利]用于测量屈光信息的光学系统有效

专利信息
申请号: 202110937884.3 申请日: 2021-08-16
公开(公告)号: CN113625445B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 胡冰;刘熙;蒋扬均 申请(专利权)人: 重庆远视科技有限公司
主分类号: G02B26/08 分类号: G02B26/08;A61B3/103
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王雨
地址: 400000*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 信息 光学系统
【权利要求书】:

1.一种用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,包括第一光学组件、第二光学组件和反射面,所述第一光学组件用于产生光束并将光束入射到所述反射面,所述反射面用于将所述第一光学组件发出的光束反射,使光束投射到被测对象,并且所述反射面转动使得光束照射到被测对象的位置移动,所述反射面以预设轴为中心轴转动,所述反射面与所述预设轴不垂直;

所述第二光学组件用于将由被测对象反射回的光束会聚并进行成像,使由被测对象不同位置反射回的光束叠加到同一成像结果上,以根据成像结果获得被测对象的屈光信息。

2.根据权利要求1所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,对由被测对象反射回的光束进行成像,得到的每一成像结果的采样时间大于所述反射面转动的周期。

3.根据权利要求1所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,所述反射面的转动速度为b转/分钟,对由被测对象反射回的光束进行成像采样帧率为a帧/秒,b大于等于60a。

4.根据权利要求1所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,所述反射面还用于将由被测对象反射回的光束反射,使光束入射到所述第二光学组件。

5.根据权利要求1所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,还包括第一透镜组件,用于将来自所述反射面的光束投射到被测对象,所述反射面具体用于将所述第一光学组件发出的光束反射,使光束入射到所述第一透镜组件并且使光束在所述第一透镜组件的入射角度大于零度。

6.根据权利要求1-5任一项所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,所述第二光学组件包括用于将由被测对象反射回的光束会聚到图像传感器上的会聚元件,会聚后光束对应形成的光斑为环状。

7.根据权利要求6所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,所述第二光学组件还包括第二透镜组件、光阑和第一准直组件,所述第二透镜组件用于将由被测对象反射回的光束进行会聚,使光束通过所述光阑,所述光阑用于拦截光轴外的杂光,所述第一准直组件用于将通过所述光阑的光束进行准直。

8.根据权利要求1-5任一项所述的用于测量屈光信息的光学系统,其特征在于,所述第二光学组件包括用于将由被测对象反射回的光束进行准直的第三透镜组件以及用于将所述第三透镜组件的出射光束进行会聚的第二透镜组件。

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