[发明专利]一种激光成像过程中的图像处理方法、系统及相关设备有效
申请号: | 202110919197.9 | 申请日: | 2021-08-11 |
公开(公告)号: | CN113379651B | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 陈乃奇;陈钢;高飞 | 申请(专利权)人: | 深圳市先地图像科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T5/30;G06T7/62;G06T7/90 |
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地址: | 518102 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 成像 过程 中的 图像 处理 方法 系统 相关 设备 | ||
本发明实施例提供了一种激光成像过程中的图像处理方法、系统及相关设备,用于解决激光成像过程中图像的边沿过度曝光问题,提高激光成像的精度。本发明实施例方法包括:获取原始二值点阵图像,所述原始二值点阵图像中包含曝光区域与非曝光区域,所述曝光区域对应激光成像过程中激光曝光点形成的区域,所述非曝光区域对应激光成像过程中非激光曝光点形成的区域;在所述原始二值点阵图像中的曝光区域与非曝光区域的交界区域,按照预设像素距离减小相邻的曝光区域的面积,以生成新的二值点阵图像。
技术领域
本发明涉及激光成像技术领域,尤其涉及一种激光成像过程中的图像处理方法、系统及相关设备。
背景技术
激光成像的原理是:控制激光照射曝光面上的感光涂层进行图像曝光,显影之后生成预设的图像。激光成像技术相对于传统工艺,降低了工艺复杂度,节约了生产成本,广泛应用于丝网印刷制版、PCB图形转移等领域。
申请人发现,激光曝光过程中,由于主光轴之外杂散光的存在,往往会导致感光胶涂层上的曝光图像的边沿过度曝光而导致图像边沿被过度保留,类似发生了图形膨胀,影响激光成像精度。如何提高激光成像精度成了亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种激光成像过程中的图像处理方法、系统及相关设备,用于解决激光成像过程中图像的边沿过度曝光问题。
本发明实施例第一方面提供了一种激光成像过程中的图像处理方法,可包括:
获取原始二值点阵图像,所述原始二值点阵图像中包含曝光区域与非曝光区域,所述曝光区域对应激光成像过程中激光曝光点形成的区域,所述非曝光区域对应激光成像过程中非激光曝光点形成的区域;
在所述原始二值点阵图像中的曝光区域与非曝光区域的交界区域,按照预设像素距离减小相邻的曝光区域的面积,以生成新的二值点阵图像。
可选的,作为一种可能的实施方式,本发明实施例中,所述按照预设像素距离减小相邻的曝光区域的面积,包括:
依次将所述交界区域的各个黑像素点作为基准点,判断与所述基准点相邻且连续的白色像素点的个数是否不小于第一预设数值;所述黑像素点对应激光成像过程中非激光曝光点,而白像素点对应激光成像过程中激光曝光点;
若不小于所述第一预设数值,则在新的二值点阵图像中,将相同位置的所述基准点相邻且连续的第二预设数值白色像素点设置为黑色像素点,所述第二预设数值小于所述第一预设数值的一半。
可选的,作为一种可能的实施方式,本发明实施例中,判断与所述基准点相邻且连续的白色像素点的个数是否不小于第一预设数值,包括:
判断所述基准点所在的像素行中,与所述基准点相邻且连续的白色像素点的个数超过第一预设数值。
可选的,作为一种可能的实施方式,本发明实施例中,判断与所述基准点相邻且连续的白色像素点的个数是否不小于第一预设数值,包括:
判断所述基准点所在的像素列中,与所述基准点相邻且连续的白色像素点的个数超过第一预设数值。
可选的,作为一种可能的实施方式,本发明实施例中,第一预设数值为不小于3的整数。
可选的,作为一种可能的实施方式,本发明实施例中的激光成像过程中的图像处理方法,还可以包括:
记录所述新的二值点阵图像中曝光区域位置,并根据预设的映射关系确定曝光面上激光曝光点。
本发明实施例第二方面提供了一种激光成像过程中的图像处理系统,可包括:
获取模块,用于获取原始二值点阵图像,所述原始二值点阵图像中包含曝光区域与非曝光区域,所述曝光区域对应激光成像过程中激光曝光点形成的区域,所述非曝光区域对应激光成像过程中非激光曝光点形成的区域;
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