[发明专利]基于改进KECA的故障检测方法、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述基于改进KECA的故障检测方法包括以下步骤：

根据数据集以及不定核函数确定核矩阵；

根据瑞利熵贡献大小对核矩阵中的元素进行排序，并确定得分矩阵；

确定所述得分矩阵的核空间映射，并根据所述核空间矩阵得到核空间向量；

根据所述核空间向量与核空间平均向量确定CS统计量；

当所述CS统计量超过控制限时，发送故障发生提示信息。

2.如权利要求1所述的基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述确定所述得分矩阵的核空间映射的步骤之后，还包括：

对所述核空间映射进行白化处理；

确定旋转矩阵，根据所述旋转矩阵以及白化处理后的核空间映射确定核空间向量。

3.如权利要求1所述的基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述根据数据集以及不定核函数确定核矩阵的步骤包括：

根据KECA算法离心模型中的均值以及方差对数据进行标准化处理；

根据标准化处理后的数据以及不定核函数确定核矩阵。

4.如权利要求1所述的基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述根据瑞利熵贡献大小对核矩阵中的元素进行排序，并确定得分矩阵的步骤之前，还包括：

确定所述核矩阵的特征值和特征向量；

确定所述数据集对应的密度函数，并根据所述密度函数确定所述数据集的瑞利熵计算公式；

根据不定核函数确定所述密度函数的近似值，其中，所述密度函数的近似值可根据不定核函数获得；

根据所述密度函数的近似值确定所述瑞利熵估计值计算公式；

根据所述特征值、所述特征向量以及所述瑞利熵估计值计算公式确定瑞利熵估计值。

5.如权利要求1所述的基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述根据所述核空间向量与核空间平均向量确定CS统计量的步骤包括：

确定核空间向量与核空间平均向量的余弦值；

根据所述余弦值确定对应的CS统计量。

6.如权利要求1所述的基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述当所述CS统计量超过控制限时，发送故障发生提示信息的步骤之前，还包括：

将测试数据进行标准化处理；

根据不定核函数、核参数以及建模数据建立KECA模型；

根据标准化处理后的测试数据以及不定核函数确定核矩阵；

根据核矩阵对应的特征值以及特征向量确定瑞利熵值；

根据对瑞利熵值贡献大小的预设数量的元素，并确定所述元素的核空间映射数据；

对所述核空间映射数据进行白化处理，并对白化处理结果进行快速独立主元分析得到核空间向量；

确定每个所述核空间向量与核空间平均向量确定统计量；

通过预设的显著性水平确定所述统计量对应的控制限。

7.如权利要求6所述的基于改进KECA的故障检测方法，其特征在于，所述对白化处理结果进行快速独立主元分析得到核空间向量的步骤包括：

通过快速独立主元分析对白化处理结果进行特征提取得到核空间向量。

8.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的基于改进KECA的故障检测程序，所述基于改进KECA的故障检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的基于改进KECA的故障检测方法的步骤。

9.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有基于改进KECA的故障检测程序，所述基于改进KECA的故障检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的基于改进KECA的故障检测方法的步骤。