[发明专利]破裂识别方法、装置、存储介质及设备

说明书

本发明涉及一种破裂识别方法、装置、存储介质及设备。本发明适用于颗粒流分析领域。本发明的技术方案为一种破裂识别方法，其特征在于：在初始颗粒体系的不同高度位置生成若干初始参考线；记录每一条初始参考线经过的颗粒及各颗粒中心与相应初始参考线的位置关系；进行模拟，获得变形后颗粒体系；根据已记录的初始参考线所经过颗粒变形后的中心位置，以及初始参考线所经过颗粒与相应初始参考线的位置关系确定变形后参考线；将变形后参考线按一定间距均匀分成若干段；若变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为连续2段交点位置一定范围内的颗粒发生了破裂。

技术领域

本发明涉及一种破裂识别方法、装置、存储介质及设备。适用于颗粒流分析领域。

背景技术

随着计算机技术的发展，数值模拟技术在工程设计和科学研究等多方面发挥越来越重要的作用。对于颗粒流分析软件，能够反映材料颗粒集合体的力学行为，并通过材料颗粒的集合体反映各种复杂力学特征，且能够较好地研究材料的非线性特征及破坏特征，基于颗粒流软件的机理研究与分析越来越多，目前商用的颗粒流软件主要为PFC2D。

利用PFC2D软件进行数值模拟分析时，对于破裂的常规识别方法主要是通过颗粒之间间距的变化或接触关系的变化来判断，对于该方法在使用一些非退化的接触设置时，难以对断裂进行识别，对于大尺度范围的破裂研究，该方法也难以较好地对断层位置等进行描述，同时该方法也无法通过颗粒描述破裂位置。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：针对上述存在的问题，提供一种破裂识别方法、装置、存储介质及设备，以更好地对PFC2D数值模拟过程的破裂进行识别，解决根据PFC2D颗粒之间间距的变化或接触关系的变化来判断断裂，无法较好地对非退化的接触设置或大尺度研究范围的破裂描述，无法通过颗粒描述破坏位置的问题。

本发明所采用的技术方案是：一种破裂识别方法，其特征在于：

在初始颗粒体系的不同高度位置生成若干初始参考线；

记录每一条初始参考线经过的颗粒及各颗粒中心与相应初始参考线的位置关系；

进行模拟，获得变形后颗粒体系；

根据已记录的初始参考线所经过颗粒变形后的中心位置，以及初始参考线所经过颗粒与相应初始参考线的位置关系确定变形后参考线；

将变形后参考线按一定间距均匀分成若干段；

若变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为连续2段交点位置一定范围内的颗粒发生了破裂。

所述初始参考线的位置和间距根据所述初始颗粒体系中颗粒的尺寸确定。

所述初始颗粒体系的高度为H，宽度为W，颗粒的最大粒径为Rmax；所述初始参考线从上至下分布，第一条初始参考线位置为初始颗粒体系的H-Rmax位置，各初始参考线之间的间距为2Rmax。

所述各颗粒中心与相应初始参考线的位置关系，包括：

各颗粒中心至相应初始参考线的距离。

所述将变形后参考线按一定间距均匀分成若干段，包括：

在沿着颗粒体系宽度方向，布置若干间距为2Rmax的竖向参考线，由变形后参考线和竖向参考线组成参考网格，参考网格中竖向参考线将变形后参考线分成若干段，Rmax为颗粒的最大粒径。

所述若变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为连续2段交点位置一定范围内的颗粒发生了破裂，包括：

若参考网格中变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为该连续2段之间的网格点位置Rmax半径范围内的颗粒发生了破裂。

一种破裂位置可视化展示方法，其特征在于：