[发明专利]破裂识别方法、装置、存储介质及设备

权利要求书

1.一种破裂识别方法，其特征在于：

在初始颗粒体系的不同高度位置生成若干初始参考线；

记录每一条初始参考线经过的颗粒及各颗粒中心与相应初始参考线的位置关系；

进行模拟，获得变形后颗粒体系；

根据已记录的初始参考线所经过颗粒变形后的中心位置，以及初始参考线所经过颗粒与相应初始参考线的位置关系确定变形后参考线；

将变形后参考线按一定间距均匀分成若干段；

若变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为连续2段交点位置一定范围内的颗粒发生了破裂。

2.根据权利要求1所述的破裂识别方法，其特征在于：所述初始参考线的位置和间距根据所述初始颗粒体系中颗粒的尺寸确定。

3.根据权利要求2所述的破裂识别方法，其特征在于：所述初始颗粒体系的高度为H，宽度为W，颗粒的最大粒径为Rmax；所述初始参考线从上至下分布，第一条初始参考线位置为初始颗粒体系的H-Rmax位置，各初始参考线之间的间距为2Rmax。

4.根据权利要求1所述的破裂识别方法，其特征在于，所述各颗粒中心与相应初始参考线的位置关系，包括：

各颗粒中心至相应初始参考线的距离。

5.根据权利要求1所述的破裂识别方法，其特征在于，所述将变形后参考线按一定间距均匀分成若干段，包括：

在沿着颗粒体系宽度方向，布置若干间距为2Rmax的竖向参考线，由变形后参考线和竖向参考线组成参考网格，参考网格中竖向参考线将变形后参考线分成若干段，Rmax为颗粒的最大粒径。

6.根据权利要求5所述的破裂识别方法，其特征在于，所述若变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为连续2段交点位置一定范围内的颗粒发生了破裂，包括：

若参考网格中变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为该连续2段之间的网格点位置Rmax半径范围内的颗粒发生了破裂。

7.一种破裂位置可视化展示方法，其特征在于：

采用权利要求1～6任意一项所述破裂识别方法识别出破裂位置颗粒及非破裂位置颗粒；

将破裂位置颗粒及非破裂位置颗粒重新写入PFC2D软件，实现PFC2D破裂位置的可视化。

8.一种破裂识别装置，其特征在于，包括：

初始生成模块，用于在初始颗粒体系的不同高度位置生成若干初始参考线；

初始参数记录模块，用于记录每一条初始参考线经过的颗粒及各颗粒中心与相应初始参考线的位置关系；

模拟变形模块，用于进行模拟，获得变形后颗粒体系；

变形后生成模块，用于根据已记录的初始参考线所经过颗粒变形后的中心位置，以及初始参考线所经过颗粒与相应初始参考线的位置关系确定变形后参考线；

参考线分段模块，用于将变形后参考线按一定间距均匀分成若干段；

破裂判断模块，用于若变形后参考线上连续2段之间的角度变化超过一定值，则认为连续2段交点位置一定范围内的颗粒发生了破裂。

9.一种存储介质，其上存储有能被处理器执行的计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被执行时实现权利要求1～6任意一项所述破裂识别方法的步骤。

10.一种破裂识别设备，具有存储器和处理器，存储器上存储有能被处理器执行的计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被执行时实现权利要求1～6任意一项所述破裂识别方法的步骤。