[发明专利]一种SD卡的插拔检测方法、装置及系统

权利要求书

1.一种SD卡的插拔检测方法，其特征在于，所述插拔检测方法包括：

检测并判断SD_CLK引脚的第一电平为高电平或低电平；

当所述第一电平为高电平时，将SD卡已拔出作为判断结果输出；

当所述第一电平为低电平时，将SD卡已插入作为判断结果输出。

2.根据权利要求1所述的SD卡的插拔检测方法，其特征在于，所述插拔检测方法还包括：

根据判断结果向用户发送相应提示。

3.一种SD卡的插拔检测装置，其特征在于，所述插拔检测装置包括采集判断单元以及结果输出单元，其中，

所述采集判断单元用于检测并判断SD_CLK引脚的第一电平为高电平或低电平；

所述结果输出单元用于当所述第一电平为高电平时，将SD卡已拔出作为判断结果输出；以及当所述第一电平为低电平时，将SD卡已插入作为判断结果输出。

4.根据权利要求3所述的SD卡的插拔检测装置，其特征在于，所述结果输出单元还用于根据判断结果向用户发送相应提示。

5.一种SD卡的插拔检测系统，其特征在于，所述插拔检测系统包括SD卡接口模块以及插拔检测模块，所述SD卡接口模块包括SD_CLK引脚以及detect引脚，所述SD_CLK引脚电连接到所述detect引脚，所述插拔检测模块1通过所述SD_CLK引脚电连接到所述SD卡接口模块，从而执行如权利要求1或2所述的SD卡的插拔检测方法。

6.根据权利要求5所述的SD卡的插拔检测系统，其特征在于，所述插拔检测模块包括上拉电阻、下拉电阻、检测装置以及VDD引脚，所述SD_CLK引脚通过所述上拉电阻电连接到所述VDD引脚，所述SD_CLK引脚通过所述下拉电阻连接到所述detect引脚。

7.根据权利要求6所述的SD卡的插拔检测系统，其特征在于，所述上拉电阻为弱上拉电阻，所述下拉电阻为弱下拉电阻，且所述弱上拉电阻的第一电阻值大于所述弱下拉电阻的第二电阻值。

8.根据权利要求6或7所述的SD卡的插拔检测系统，其特征在于，所述第一电阻值为60k欧姆，所述第二电阻值为10k欧姆。